Ghavami behnam (39 resultados)
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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Condición: New. 1st ed. 2021 edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Hardcover. Condición: Brand New. 127 pages. 9.25x6.10x9.21 inches. In Stock.
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EUR 107,86
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Taschenbuch. Condición: Neu. Soft Error Reliability of VLSI Circuits | Analysis and Mitigation Techniques | Behnam Ghavami (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2021 | Springer | EAN 9783030516123 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[…dot]com | Anbieter: preigu.
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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Condición: New. pp. 124.
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Paperback. Condición: Brand New. 120 pages. 9.25x6.10x0.28 inches. In Stock.
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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Hardcover. Condición: Brand New. 120 pages. 9.25x6.10x9.21 inches. In Stock.
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital… systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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EUR 90,94
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital system…s, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
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Condición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of… digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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Condición: New. Print on Demand.
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Berlin|Springer International Publishing|Springer, 2021
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimation and GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing an…d logic restructuring based SER techniqu.
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides an accessible, comprehensive introduction to soft errorsDescribes an easy to follow procedure for modeling, analysis, and estimation of soft error rate of digital circuitsIncludes state-of-the art soft error…aware CAD algorithms.
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Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliab…ility of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits. 124 pp. Englisch.
