Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques

Ghavami, Behnam; Raji, Mohsen

ISBN 10: 3030516121 ISBN 13: 9783030516123
Editorial: Springer, 2021
Idioma: Inglés
Nuevos Condición: New Encuadernación de tapa blanda

Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido

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