Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques

Ghavami, Behnam; Raji, Mohsen

ISBN 10: 3030516121 ISBN 13: 9783030516123
Editorial: Springer, 2021
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

Vendido por Majestic Books, Hounslow, Reino Unido

Vendedor de AbeBooks desde 19 de enero de 2007

Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas Valoración 4 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa blanda

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 75,05
Envío por EUR 7,50
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 4 disponibles

Añadir al carrito