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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 52,33
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 59,87
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 60,36
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 75,01
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits : Analysis and Mitigation Techniques
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 65,79
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Soft Error Reliability of Vlsi Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 77,76
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 100,60
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Ci
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 115,98
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 124.
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 101,85
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits | Analysis and Mitigation Techniques
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 50,35
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Soft Error Reliability of VLSI Circuits | Analysis and Mitigation Techniques | Behnam Ghavami (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2021 | Springer | EAN 9783030516123 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 120,93
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 135,96
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 120 pages. 9.25x6.10x0.28 inches. In Stock.
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Lifetime Reliability-Aware Design of Integrated Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 137,89
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2023
ISBN 10: 3031153472 ISBN 13: 9783031153471
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 90,94
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2022
ISBN 10: 3031153448 ISBN 13: 9783031153440
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 90,94
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 72,72
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Añadir al carritoCondición: Hervorragend. Zustand: Hervorragend | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 46,22
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits (eng)
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 75,05
Envío por EUR 7,50
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits: Analysis and Mitigation Techniques
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 76,30
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Berlin|Springer International Publishing|Springer, 2021
ISBN 10: 3030516121 ISBN 13: 9783030516123
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 47,23
Envío por EUR 48,99
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimation and GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniqu.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2020
ISBN 10: 3030516091 ISBN 13: 9783030516093
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 47,23
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides an accessible, comprehensive introduction to soft errorsDescribes an easy to follow procedure for modeling, analysis, and estimation of soft error rate of digital circuitsIncludes state-of-the art soft error aware CAD algorithms.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Okt 2021, 2021
ISBN 10: 3030516121 ISBN 13: 9783030516123
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,49
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book is intended for readers who are interested in the design of robust and reliable electronic digital systems. The authors cover emerging trends in design of today¿s reliable electronic systems which are applicable to safety-critical applications, such as automotive or healthcare electronic systems. The emphasis is on modeling approaches and algorithms for analysis and mitigation of soft errors in nano-scale CMOS digital circuits, using techniques that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. The authors introduce software tools for analysis and mitigation of soft errors in electronic systems, which can be integrated easily with design flows. In addition to discussing soft error aware analysis techniques for combinational logic, the authors also describe new soft error mitigation strategies targeting commercial digital circuits. Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 128 pp. Englisch.
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Soft Error Reliability of VLSI Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Okt 2020, 2020
ISBN 10: 3030516091 ISBN 13: 9783030516093
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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