Strong alvin (30 resultados)
Librería: Books for Life, LAUREL, MD, Estados Unidos de AmericaBooks for Life
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Condición: very_good. Book is in very good condition. Clean with little to no signs of wear or markings highlights. Strong, Melodee (ilustrador).
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de AmericaThriftBooks-Atlanta
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Unknown. Condición: Very Good. No Jacket. Former library book; May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less. Strong, Melodee (ilustrador).
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Unknown. Condición: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less. Strong, Melodee (ilustrador).
Librería: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Estados Unidos de AmericaThriftBooks-Dallas
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EUR 5,84
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Unknown. Condición: Very Good. No Jacket. Former library book; May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less. Strong, Melodee (ilustrador).
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Unknown. Condición: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less. Strong, Melodee (ilustrador).
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History of the Canadian Peoples 1867 to the Present
Kinkel, Alvin and Conrad, Margaret with Strong-Boag, Veronica
Idioma: Inglés
Editorial: Copp Clark Pitman Ltd., Toronto, Ontario, Canada, 1993
- Tapa blanda
Librería: Patricia Porter, Kincardine, ON, CanadaPatricia Porter
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EUR 22,51
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SftCvr, VG, Volume 2, an inclusive survey of Canadian history, 8vo, 631 p, index included.
Más imágenes- Tapa blanda
Librería: BookAddiction (IOBA, IBooknet), Canterbury, Reino UnidoBookAddiction (IOBA, IBooknet)
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Condición: Usado - Muy bueno
EUR 26,64
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Softcover. Condición: Near Fine. Estado de la sobrecubierta: N/A. xxii, 632pp; various in-text black and white photographs. Pictorial laminated light card covers. 8vo. Light shelf wear to covers. Internally, neat, clean, bright and tight.
- Tapa blanda
Librería: Blue Vase Books, Interlochen, MI, Estados Unidos de AmericaBlue Vase Books
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EUR 67,53
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Condición: good. The item shows wear from consistent use, but it remains in good condition and works perfectly. All pages and cover are intact including the dust cover, if applicable . Spine may show signs of wear. Pages may include limited notes and highlighting. May NOT include discs, access code or other supplemental material…s. Melodee Strong (ilustrador).
History of the Canadian Peoples: Beginnings to 1867 Conrad, Margaret; Finkel, Alvin; Jaenen, Cornelius; Strong-Boag, Ceronica
Conrad, Margaret; Finkel, Alvin; Jaenen, Cornelius; Strong-Boag, Ceronica
- Tapa blanda
Librería: Aragon Books Canada, OTTAWA, ON, CanadaAragon Books Canada
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EUR 49,52
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Paperback. Condición: New.
History of the Canadian Peoples: Beginnings to 1867
Conrad, Margaret; Finkel, Alvin; Jaenen, Cornelius; Strong-Boag, Ceronica
- Tapa blanda
Librería: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Reino UnidoPhatpocket Limited
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Condición: Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-Peter; Sune, Jordi; La Rosa, Giuseppe; Sullivan, Timothy D.; Rauch III, Stewart E.
- Tapa dura
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
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Condición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-Peter; Sune, Jordi; La Rosa, Giuseppe; Sullivan, Timothy D.; Rauch III, Stewart E.
- Tapa dura
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de AmericaSMASS Sellers
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EUR 139,00
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Condición: New. Brand New Original US Edition. Customer service! Satisfaction Guaranteed.
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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Condición: New. pp. 624.
- Tapa dura
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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Condición: New. pp. 624.
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-peter; Sune, Jordi; La Rosa, Guiseppe
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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Condición: New.
- Tapa dura
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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Condición: New. pp. 624.
- Tapa dura
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino UnidoPBShop.store UK
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EUR 173,89
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HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000.
- Tapa dura
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Condición: new.
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-peter; Sune, Jordi; La Rosa, Guiseppe
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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Condición: New.
- Tapa dura
- Primera edición
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, IrlandaKennys Bookshop and Art Galleries Ltd.
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EUR 228,03
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Condición: New. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. Series:…IEEE Press Series on Microelectronic Systems. Num Pages: 624 pages, Illustrations. BIC Classification: TJFC; UY. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 162 x 34. Weight in Grams: 982. . 2009. 1st Edition. Hardcover. . . . .
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-peter; Sune, Jordi; La Rosa, Guiseppe
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 240,99
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)
Strong, Alvin W., Wu, Ernest Y., Vollertsen, Rolf-Peter, Sun
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 231,32
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Hardcover. Condición: Like New. Like New. book.
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-peter; Sune, Jordi; La Rosa, Guiseppe
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 266,15
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Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Strong, Alvin W./ Wu, Ernest Y./ Vollertsen, Rolf-peter/ Sune, Jordi/ La Rosa, Guiseppe
- Tapa dura
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 267,27
Envío por EUR 14,70Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 624 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock.
- Tapa dura
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de AmericaKennys Bookstore
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EUR 290,49
Envío por EUR 9,18Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. Series:…IEEE Press Series on Microelectronic Systems. Num Pages: 624 pages, Illustrations. BIC Classification: TJFC; UY. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 162 x 34. Weight in Grams: 982. . 2009. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
- Tapa dura
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 274,25
Envío por EUR 65,60Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Buch. Condición: Neu. Neuware - A comprehensive treatment of all aspects of CMOS reliability wearout mechanismsThis book covers everything students and professionals need to know about CMOS reliability wearout mechanisms, from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. It is the f…irst book of its kind to bring together the pertinent physics, equations, and procedures for CMOS technology reliability in one place. Divided into six relatively independent topics, the book covers:\* Introduction to Reliability\* Gate Dielectric Reliability\* Negative Bias Temperature Instability\* Hot Carrier Injection\* Electromigration Reliability\* Stress VoidingChapters conclude with practical appendices that provide very basic experimental procedures for readers who are conducting reliability experiments for the first time. Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies is ideal for students and new engineers who are looking to gain a working understanding of CMOS technology reliability. It is also suitable as a professional reference for experienced circuit design engineers, device design engineers, and process engineers.
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: True World of Books, Delhi, IndiaTrue World of Books
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EUR 21,60
Gastos de envío gratisSe envía de India a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 18 disponibles
LeatherBound. Condición: New. BOOKS ARE EXEMPT FROM IMPORT DUTIES AND TARIFFS; NO EXTRA CHARGES APPLY. LeatherBound edition. Condition: New. Reprinted from 1905 edition. Leather Binding on Spine and Corners with Golden leaf printing on spine. Bound in genuine leather with Satin ribbon page markers and Spine with raised gilt band…s. A perfect gift for your loved ones. Pages: 45 NO changes have been made to the original text. This is NOT a retyped or an ocr'd reprint. Illustrations, Index, if any, are included in black and white. Each page is checked manually before printing. As this print on demand book is reprinted from a very old book, there could be some missing or flawed pages, but we always try to make the book as complete as possible. Fold-outs, if any, are not part of the book. If the original book was published in multiple volumes then this reprint is of only one volume, not the whole set. Sewing binding for longer life, where the book block is actually sewn (smythe sewn/section sewn) with thread before binding which results in a more durable type of binding. Pages: 45.
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Strong, Alvin W./ Wu, Ernest Y./ Vollertsen, Rolf-peter/ Sune, Jordi/ La Rosa, Guiseppe
- Tapa dura
- Impresión bajo demanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 246,99
Envío por EUR 14,70Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 624 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock. This item is printed on demand.
- Tapa dura
- Primera edición
- Impresión bajo demanda
Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino UnidoCitiRetail
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EUR 233,73
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Hardcover. Condición: new. Hardcover. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanismsfrom basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or… experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
