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Colorful World
Librería: Books for Life, LAUREL, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 5,32
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Colorful World
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Colorful World
Librería: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Colorful World
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Colorful World
Librería: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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History of the Canadian Peoples 1867 to the Present
Idioma: Inglés
Publicado por Copp Clark Pitman Ltd., Toronto, Ontario, Canada, 1993
ISBN 10: 0773051899 ISBN 13: 9780773051898
Librería: Patricia Porter, Kincardine, ON, Canada
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 22,13
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Añadir al carritoSftCvr, VG, Volume 2, an inclusive survey of Canadian history, 8vo, 631 p, index included.
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History of the Canadian Peoples, Volume II - 1867 to the Present
Idioma: Inglés
Publicado por Copp Clark Pitman, Mississauga, ON, UK, 1993
ISBN 10: 0773051899 ISBN 13: 9780773051898
Librería: BookAddiction (IOBA, IBooknet), Canterbury, Reino Unido
Miembro de asociación: IOBA
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 26,20
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Añadir al carritoSoftcover. Condición: Near Fine. Estado de la sobrecubierta: N/A. xxii, 632pp; various in-text black and white photographs. Pictorial laminated light card covers. 8vo. Light shelf wear to covers. Internally, neat, clean, bright and tight.
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History of the Canadian Peoples: Beginnings to 1867 Conrad, Margaret; Finkel, Alvin; Jaenen, Cornelius; Strong-Boag, Ceronica
Idioma: Inglés
Publicado por Addison-Wesley Pub (Sd), 1993
ISBN 10: 077304843X ISBN 13: 9780773048430
Librería: Aragon Books Canada, OTTAWA, ON, Canada
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 48,68
Envío por EUR 19,77
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Añadir al carritoPaperback. Condición: New.
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History of the Canadian Peoples: Beginnings to 1867
Idioma: Inglés
Publicado por Addison-Wesley Pub (Sd), 1993
ISBN 10: 077304843X ISBN 13: 9780773048430
Librería: Phatpocket Limited, Waltham Abbey, HERTS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 105,94
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Añadir al carritoCondición: Good. Your purchase helps support Sri Lankan Children's Charity 'The Rainbow Centre'. Ex-library, so some stamps and wear, but in good overall condition. Our donations to The Rainbow Centre have helped provide an education and a safe haven to hundreds of children who live in appalling conditions.
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Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 133,08
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Añadir al carritoCondición: New. This is a Brand-new US Edition. This Item may be shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
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Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 136,77
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Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 141,85
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 151,19
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 624.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 154,50
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 624.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 157,31
Envío por EUR 9,95
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 624.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 174,78
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 171,00
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 3 de 5 estrellas
EUR 168,46
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,94
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley and Sons Ltd, 2009
ISBN 10: 0471731722 ISBN 13: 9780471731726
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 228,03
Envío por EUR 10,50
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Añadir al carritoCondición: New. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. Series: IEEE Press Series on Microelectronic Systems. Num Pages: 624 pages, Illustrations. BIC Classification: TJFC; UY. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 162 x 34. Weight in Grams: 982. . 2009. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 236,99
Envío por EUR 17,34
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Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 227,47
Envío por EUR 28,91
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 261,73
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 263,59
Envío por EUR 14,45
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 624 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley and Sons Ltd, 2009
ISBN 10: 0471731722 ISBN 13: 9780471731726
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 285,57
Envío por EUR 9,02
Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. Series: IEEE Press Series on Microelectronic Systems. Num Pages: 624 pages, Illustrations. BIC Classification: TJFC; UY. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 162 x 34. Weight in Grams: 982. . 2009. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 274,25
Envío por EUR 65,60
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - A comprehensive treatment of all aspects of CMOS reliability wearout mechanismsThis book covers everything students and professionals need to know about CMOS reliability wearout mechanisms, from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. It is the first book of its kind to bring together the pertinent physics, equations, and procedures for CMOS technology reliability in one place. Divided into six relatively independent topics, the book covers:\* Introduction to Reliability\* Gate Dielectric Reliability\* Negative Bias Temperature Instability\* Hot Carrier Injection\* Electromigration Reliability\* Stress VoidingChapters conclude with practical appendices that provide very basic experimental procedures for readers who are conducting reliability experiments for the first time. Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies is ideal for students and new engineers who are looking to gain a working understanding of CMOS technology reliability. It is also suitable as a professional reference for experienced circuit design engineers, device design engineers, and process engineers.
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![Imagen del vendedor de Seventeenth Annual Report of the Director of the Bureau of Science 1905 [LeatherBound] a la venta por True World of Books](https://pictures.abebooks.com/inventory/md/md31617107859.jpg)
Seventeenth Annual Report of the Director of the Bureau of Science 1905 [LeatherBound]
Año de publicación: 2025
Librería: True World of Books, Delhi, India
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 21,23
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Se envía de India a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 18 disponibles
Añadir al carritoLeatherBound. Condición: New. BOOKS ARE EXEMPT FROM IMPORT DUTIES AND TARIFFS; NO EXTRA CHARGES APPLY. LeatherBound edition. Condition: New. Reprinted from 1905 edition. Leather Binding on Spine and Corners with Golden leaf printing on spine. Bound in genuine leather with Satin ribbon page markers and Spine with raised gilt bands. A perfect gift for your loved ones. Pages: 45 NO changes have been made to the original text. This is NOT a retyped or an ocr'd reprint. Illustrations, Index, if any, are included in black and white. Each page is checked manually before printing. As this print on demand book is reprinted from a very old book, there could be some missing or flawed pages, but we always try to make the book as complete as possible. Fold-outs, if any, are not part of the book. If the original book was published in multiple volumes then this reprint is of only one volume, not the whole set. Sewing binding for longer life, where the book block is actually sewn (smythe sewn/section sewn) with thread before binding which results in a more durable type of binding. Pages: 45.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 242,88
Envío por EUR 14,45
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 624 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (Hardcover)
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley & Sons Inc, Chicester, 2009
ISBN 10: 0471731722 ISBN 13: 9780471731726
Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición Impresión bajo demanda
EUR 229,84
Envío por EUR 42,78
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Hardcover. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanismsfrom basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
