Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies

Idioma: inglés

Editorial: Wiley-IEEE Press, 2009

0471731722 / 9780471731726

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Título
Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Autor
Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf-Peter; Sune, Jordi; La Rosa, Giuseppe; Sullivan, Timothy D.; Rauch III, Stewart E.
Editorial
Wiley-IEEE Press
Año de publicación
2009
Estado
New
Encuadernación
Encuadernación de tapa dura
Idioma
inglés
ISBN 10
0471731722
ISBN 13
9780471731726

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