Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

Rauch Stewart E. Sullivan Timothy D. La Rosa Giuseppe Sune Jordi Vollertsen Rolf?Peter Wu Ernest Y. Strong Alvin W.

ISBN 10: 0471731722 ISBN 13: 9780471731726
Editorial: John Wiley & Sons, 2009
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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