Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

Strong, Alvin W./ Wu, Ernest Y./ Vollertsen, Rolf-peter/ Sune, Jordi/ La Rosa, Guiseppe

ISBN 10: 0471731722 ISBN 13: 9780471731726
Editorial: IEEE, 2009
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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