Sachdev manoj (65 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 18 de 40. Libro 18 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: Patrico Books, Apollo Beach, FL, Estados Unidos de AmericaPatrico Books
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EUR 15,38
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hardcover. Condición: As New. 2nd. Ships Out Tomorrow.
Idioma: Inglés
Editorial: New Age International Publisher, 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 18 de 40. Libro 18 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
- Edición internacional
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de AmericaRomtrade Corp.
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasEdición internacionalCondición: Nuevo
EUR 26,69
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Condición: New. Brand New. Soft Cover International Edition. Different ISBN and Cover Image. Priced lower than the standard editions which is usually intended to make them more affordable for students abroad. The core content of the book is generally the same as the standard edition. The country selling restrictions may be print…ed on the book but is no problem for the self-use. This Item maybe shipped from US or any other country as we have multiple locations worldwide.
Idioma: Inglés
Editorial: New Age International Publisher, 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 18 de 40. Libro 18 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de AmericaSMASS Sellers
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EUR 27,70
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Condición: New. Brand New, Softcover edition. This item may ship from the US or our Overseas warehouse depending on your location and stock availability.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Libro 2 de 34. Libro 2 de 34 - Integrated Circuits and Systems
- Tapa dura
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de AmericaHPB-Red
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EUR 56,63
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hardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Libro 2 de 34. Libro 2 de 34 - Integrated Circuits and Systems
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 115,66
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Condición: New. In.
- Tapa blanda
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de AmericaHPB-Red
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EUR 129,34
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paperback. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Libro 2 de 34. Libro 2 de 34 - Integrated Circuits and Systems
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 131,05
Envío por EUR 2,32Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Libro 2 de 34. Libro 2 de 34 - Integrated Circuits and Systems
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 115,65
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer-Verlag New York Inc., US, 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Libro 2 de 34. Libro 2 de 34 - Integrated Circuits and Systems
- Tapa dura
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino UnidoRarewaves.com USA
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EUR 144,46
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Hardback. Condición: New. 2006 ed.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Integrated Circuits and Systems, Libro 2 de 34. Libro 2 de 34 - Integrated Circuits and Systems
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 147,04
Envío por EUR 3,50Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 192.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Integrated Circuits and Systems, Libro 2 de 34. Libro 2 de 34 - Integrated Circuits and Systems
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 140,11
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 18 de 40. Libro 18 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: Solr Books, Lincolnwood, IL, Estados Unidos de AmericaSolr Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 152,20
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Condición: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 18 de 40. Libro 18 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 169,99
Envío por EUR 3,50Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: New. pp. 352 2nd Edition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 18 de 40. Libro 18 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark
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EUR 65,39
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Condición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 352 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Defect-oriented testing methods have come a long way from a mere interesting academic exercise to a hard industrial reality. Many factors have contributed to its industrial acceptance. Traditional approaches of testing modern integrat…ed circuits have been found to be inadequate in terms of quality and economics of test. In a globally competitive semiconductor market place, overall product quality and economics have become very important objectives. In addition, electronic systems are becoming increasingly complex and demand components of the highest possible quality. Testing in general and defect-oriented testing in particular help in realizing these objectives. For contemporary System on Chip (SoC) VLSI circuits, testing is an activity associated with every level of integration. However, special emphasis is placed for wafer-level test, and final test. Wafer-level test consists primarily of dc or slow-speed tests with current/voltage checks per pin under most operating conditions and with test limits properly adjusted. Basic digital tests are applied and in some cases low-frequency tests to ensure analog/RF functionality are exercised as well. Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc. This partitioning choice is actually application dependent.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 21 de 40. Libro 21 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 164,57
Envío por EUR 13,89Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 18 de 40. Libro 18 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 164,57
Envío por EUR 13,89Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer US, Springer New York, 2010
Serie: Integrated Circuits and Systems, Libro 2 de 34. Libro 2 de 34 - Integrated Circuits and Systems
- Tapa blanda
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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EUR 112,77
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In Thermal and Power Management of Integrated Circuits, power and thermal management issues in integrated circuits during normal operating conditions and stress operating conditions are addressed. Thermal management in VLSI circuits is becoming an…integral part of the design, test, and manufacturing. Proper thermal management is the key to achieve high performance, quality and reliability. Performance and reliability of integrated circuits are strong functions of the junction temperature. A small increase in junction temperature may result in significant reduction in the device lifetime.This book reviews the significance of the junction temperature as a reliability measure under nominal and burn-in conditions. The latest research in the area of electro-thermal modeling of integrated circuits will also be presented. Recent models and associated CAD tools are covered and various techniques at the circuit and system levels are reviewed. Subsequently, the authors provide an insight into the concept of thermal runaway and how it may best be avoided. A section on low temperature operation of integrated circuits concludes the book.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 21 de 40. Libro 21 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
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EUR 181,44
Envío por EUR 2,32Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 15 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2008
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 21 de 40. Libro 21 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 164,54
Envío por EUR 17,39Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 18 de 40. Libro 18 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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EUR 178,53
Envío por EUR 7,53Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: New. pp. 352 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
- Tapa blanda
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 176,78
Envío por EUR 13,89Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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EUR 176,78
Envío por EUR 13,89Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Integrated Circuits and Systems, Libro 2 de 34. Libro 2 de 34 - Integrated Circuits and Systems
- Tapa blanda
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 176,69
Envío por EUR 28,98Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Paperback. Condición: Like New. Like New. book.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer-Verlag New York Inc., US, 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Libro 2 de 34. Libro 2 de 34 - Integrated Circuits and Systems
- Tapa dura
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino UnidoRarewaves.com UK
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EUR 136,25
Envío por EUR 75,34Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Hardback. Condición: New. 2006 ed.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Libro 2 de 34. Libro 2 de 34 - Integrated Circuits and Systems
- Tapa dura
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino UnidoGreatBookPricesUK
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EUR 194,59
Envío por EUR 17,39Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Libro 2 de 34. Libro 2 de 34 - Integrated Circuits and Systems
- Tapa dura
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 185,05
Envío por EUR 28,98Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Hardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2006
Serie: Integrated Circuits and Systems, Libro 2 de 34. Libro 2 de 34 - Integrated Circuits and Systems
- Tapa dura
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de AmericaGreatBookPrices
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Como Nuevo
EUR 218,07
Envío por EUR 2,32Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: As New. Unread book in perfect condition.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 21 de 40. Libro 21 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu
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EUR 149,00
Envío por EUR 70,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Taschenbuch. Condición: Neu. CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | Process-Aware SRAM Design and Test | Manoj Sachdev (u. a.) | Taschenbuch | xvi | Englisch | 2010 | Springer | EAN 9789048178551 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, ju…ergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 21 de 40. Libro 21 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa blanda
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 228,65
Envío por EUR 3,50Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Condición: New. pp. 212.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2007
Serie: Frontiers in Electronic Testing, Libro 18 de 40. Libro 18 de 40 - Frontiers in Electronic Testing
- Tapa dura
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 225,68
Envío por EUR 13,89Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Condición: New. In.
