DEFECT ORIENTED TESTING FOR NANO METRIC CMOS VLSI CIRCUITS

Libro 18 de 40: Frontiers in Electronic Testing

Manoj Sachdev

ISBN 10: 8184894295 ISBN 13: 9788184894295
Editorial: New Age International Publisher, 2010
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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