Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Libro 18 de 40: Frontiers in Electronic Testing

Pineda de Gyvez Jose Sachdev Manoj

ISBN 10: 0387465464 ISBN 13: 9780387465463
Editorial: Springer, 2007
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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