Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Idioma: inglés

Editorial: Springer, 2007

0387465464 / 9780387465463

Serie: Libro 18 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

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Título
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Autor
Pineda de Gyvez Jose Sachdev Manoj
Editorial
Springer
Año de publicación
2007
Estado
New
Encuadernación
Encuadernación de tapa dura
Idioma
inglés
ISBN 10
0387465464
ISBN 13
9780387465463
Edición
2ª Edición
Serie
Libro 18 de 40: Frontiers in Electronic Testing

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