CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies | Process-Aware SRAM Design and Test

Libro 21 de 40: Frontiers in Electronic Testing

Manoj Sachdev (u. a.)

ISBN 10: 904817855X ISBN 13: 9789048178551
Editorial: Springer, 2010
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

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