Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)

Sachdev, Manoj; Pineda De Gyvez, José

ISBN 10: 0387465464 ISBN 13: 9780387465463
Editorial: Springer, 2007
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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