Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

Idioma: inglés

Editorial: Springer US, 2007

0387465464 / 9780387465463

Serie: Libro 18 de 40 - Frontiers in Electronic Testing

Librería: Buchpark, Trebbin, AlemaniaBuchpark

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de AbeBooks desde 30 de septiembre de 2021

Ver los artículos de este vendedor
Tapa dura

Condición: Usado - Excelente

EUR 45,51

Envío por EUR 105,00 
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito

Descripción del artículo del vendedor

Zustand: Sehr gut | Seiten: 352 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | Defect-oriented testing methods have come a long way from a mere interesting academic exercise to a hard industrial reality. Many factors have contributed to its industrial acceptance. Traditional approaches of testing modern integrated circuits have been found to be inadequate in terms of quality and economics of test. In a globally competitive semiconductor market place, overall product quality and economics have become very important objectives. In addition, electronic systems are becoming increasingly complex and demand components of the highest possible quality. Testing in general and defect-oriented testing in particular help in realizing these objectives. For contemporary System on Chip (SoC) VLSI circuits, testing is an activity associated with every level of integration. However, special emphasis is placed for wafer-level test, and final test. Wafer-level test consists primarily of dc or slow-speed tests with current/voltage checks per pin under most operating conditions and with test limits properly adjusted. Basic digital tests are applied and in some cases low-frequency tests to ensure analog/RF functionality are exercised as well. Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc. This partitioning choice is actually application dependent.

N° de ref. del artículo 3284441/12

Título
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Autor
José Pineda de Gyvez, Manoj Sachdev
Editorial
Springer US
Año de publicación
2007
Estado
Sehr gut
Encuadernación
Encuadernación de tapa dura
Idioma
inglés
ISBN 10
0387465464
ISBN 13
9780387465463
Edición
2ª Edición
Serie
Libro 18 de 40: Frontiers in Electronic Testing
Catálogos de vendedores
Bücher

Buchpark

Trebbin, Alemania

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de AbeBooks desde 30 de septiembre de 2021

Tarifas de envío de Alemania a Estados Unidos de America

ArtículoDe 60 a 60 días hábilesDe 60 a 60 días hábiles
Primer artículoEUR 105,00EUR 130,00
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

VisaMastercardAmerican ExpressCarte BleueApple PayGoogle Pay
Cheque
Giro bancario
PayPal

Descripción de la tienda

Seit über 30 Jahren handeln wir mit Büchern. Begonnen hat alles als kleiner Fachbuchhandel in Berlin. Heute sind wir spezialisiert auf den An- und Verkauf gebrauchter Bücher. Noch immer liegt unser Fokus dabei auf den Kategorien: Fachbuch und englischsprachige Literatur. Hinzu kommen Bücher aus allen anderen Genres, wie Belletristik, Biografien oder Kinderbücher. Unser oberstes Ziel ist dabei die Weiterverwendung von Dingen und die Schonung von Ressourcen. Neben dem Ankauf von privaten Büchern oder Haushaltsauflösungen kaufen wir bundesweit komplette Bibliotheken und Buchbestände von Institutionen auf, um diese nachhaltig ein weiteres Mal auf den Markt zu bringen. Parallel dazu bietet Buchpark die Möglichkeit, große Mengen einzulagern. Ganze Bibliotheken und umfangreiche Buchbestände werden von uns professionell auf Qualitätsmerkmale hin untersucht und sorgfältig für den Onlinehandel aufbereitet. Wir schenken Büchern ein zweites Leben.

Información empresarial del vendedor

Buchpark GmbH

Krügerweg 1
Trebbin, Alemania 14959