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High-resolution x-ray scattering. From thin films and multilayers.
Libro 59 de 227: Springer Tracts in Modern PhysicsLibrería: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,56
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![Imagen de archivo de High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics) [Hardcover] Pietsch, Ullrich; Holy, Vaclav and Baumbach, Tilo a la venta por SpringBooks](https://pictures.abebooks.com/isbn/9780387400921-es-300.jpg)
High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics) [Hardcover] Pietsch, Ullrich; Holy, Vaclav and Baumbach, Tilo
Librería: SpringBooks, Berlin, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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High-Resolution X-Ray Scattering
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Seiten: 408 | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher | During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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High-resolution X-ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers (Springer Tracts in Modern Physics)
Libro 59 de 227: Springer Tracts in Modern PhysicsLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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High-Resolution X-Ray Scattering
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
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High-Resolution X-Ray Scattering
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
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High-Resolution X-Ray Scattering
Librería: moluna, Greven, Alemania
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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High-Resolution X-Ray Scattering
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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