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Zwischen Vergessen und Erinnerung - Stätten des Gedenkens im Altmarkkreis Salzwedel.
Librería: KULTur-Antiquariat, Boizenburg, MV, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 9,10
Envío por EUR 17,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoGebundene Ausgabe. Condición: Gut. Pietsch, Jürgen M Ilustrador. 96 Seiten, bebildert. Einband leicht berieben, ansonsten gut erhalten. ISBN: 9783000084423 Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 550.
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High-resolution x-ray scattering. From thin films and multilayers.
Libro 59 de 227: Springer Tracts in Modern PhysicsLibrería: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 25,70
Envío por EUR 40,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. C-02760 9783540620297 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1050.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,56
Envío por EUR 13,74
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In English.
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Neuerwerbungen 1974-1979.
Idioma: Alemán
Publicado por Museum für Kunst- und Kulturgeschichte, Lübeck, 1980
Librería: Leonardu, Benz, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 9,00
Envío por EUR 20,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritokartonierte Ausgabe. Condición: Gut. 101 Seiten, schwarz-weiße Abbildungen, Inhaltsverzeichnis, abgekürzt zitierte Literatur, illustrierter Einband Dieser Auswahlkatalog erschien anläßlich der Ausstellung "Neuerwerbungen 1974-1979" im Museum Behnhaus vom 13. Juni bis 20. Juli 1980. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 200.
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High-resolution X-ray scattering. From thin films and lateral nanostructures.
Librería: Antiquariat Bookfarm, Löbnitz, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 31,48
Envío por EUR 40,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. 2nd ed. XVI, 408 Ex-library with stamp and library-signature. GOOD condition, some traces of use. Ehem. Bibliotheksexemplar mit Signatur und Stempel. GUTER Zustand, ein paar Gebrauchsspuren. C-05638 9780387400921 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 550.
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![Imagen de archivo de High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics) [Hardcover] Pietsch, Ullrich; Holy, Vaclav and Baumbach, Tilo a la venta por SpringBooks](https://pictures.abebooks.com/isbn/9780387400921-es-300.jpg)
High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics) [Hardcover] Pietsch, Ullrich; Holy, Vaclav and Baumbach, Tilo
Librería: SpringBooks, Berlin, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 43,21
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. 2. Auflage. Unread, some shelfwear. Immediately dispatched from Germany.
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![Imagen del vendedor de Zwischen Erinnerung und Vergessen [Neubuch] Stätten des Gedenkens im Altmarkkreis Salzwedel. Schriften zur Regionalgeschichte. Band 3 a la venta por ANTIQUARIAT Franke BRUDDENBOOKS](https://pictures.abebooks.com/inventory/md/md31296753760.jpg)
Zwischen Erinnerung und Vergessen [Neubuch] Stätten des Gedenkens im Altmarkkreis Salzwedel. Schriften zur Regionalgeschichte. Band 3
Librería: ANTIQUARIAT Franke BRUDDENBOOKS, Lübeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 26,00
Envío por EUR 22,13
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Añadir al carritoGr.-8° Gebundene Ausgabe. Condición: Neu. Pietsch, Jürgen M Ilustrador. 1. Auflage. 96 Seiten Gebundenes Buch. Buch ist neu, aus priv. Vorbesitz. original eingeschweisst. ISBN: 9783000084423 Wir senden umgehend mit beiliegender MwSt.Rechnung. Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 561.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 95,56
Envío por EUR 13,74
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 93,57
Envío por EUR 17,76
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 114,47
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Añadir al carritohardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title!
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High-Resolution X-Ray Scattering
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 125,56
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 428.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 137,55
Envío por EUR 13,74
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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High-resolution X-ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 139,22
Envío por EUR 14,33
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 2nd edition. 410 pages. 9.00x6.00x1.00 inches. In Stock.
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High-Resolution X-Ray Scattering | From Thin Films to Lateral Nanostructures
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 84,50
Envío por EUR 70,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. High-Resolution X-Ray Scattering | From Thin Films to Lateral Nanostructures | Ullrich Pietsch (u. a.) | Taschenbuch | Advanced Texts in Physics | xvi | Englisch | 2011 | Springer | EAN 9781441923073 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures (Advanced Texts in Physics)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 137,00
Envío por EUR 28,67
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Idioma: Inglés
Publicado por Springer New York, Springer US, 2011
ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 100,94
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.
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High-Resolution X-Ray Scattering : From Thin Films to Lateral Nanostructures
Idioma: Inglés
Publicado por Springer New York Aug 2004, 2004
ISBN 10: 0387400923 ISBN 13: 9780387400921
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 188,08
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.
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High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers (Springer Tracts in Modern Physics)
Libro 59 de 227: Springer Tracts in Modern PhysicsLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 248,02
Envío por EUR 28,67
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. LIKE NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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Ein fein Bergmannig Porcelan: Abbilder vom Bergbau in "Weissem Gold" (Veröffentlichungen aus dem Deutschen Bergbau-Museum)
Idioma: Alemán
Publicado por Deutsches Bergbau-Museum, 1999
ISBN 10: 3921533643 ISBN 13: 9783921533642
Librería: Antiquariat Kastanienhof, Pirna, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 19,00
Envío por EUR 84,86
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Sehr gut. 28,19 x 22,86 x 2,54 Gebundene Ausgabe, SEHR GUTES EXEMPLAR--- Für Ihre Zufriedenheit versenden wir mit DHL und ausschließlich mit Trackingcode für eine sichere Sendungsverfolgung! Weitere Angebote unter antiquariat-kastanienhof , 365 Seiten. nein.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 58,99
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Añadir al carritoPAP. Condición: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 53,67
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Añadir al carritoPAP. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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High-Resolution X-Ray Scattering (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 78,24
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Se envía de Italia a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: new. Questo è un articolo print on demand.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Idioma: Inglés
Publicado por Springer New York Dez 2011, 2011
ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 96,29
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers. 428 pp. Englisch.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 81,44
Envío por EUR 48,99
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 127,44
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 428.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 136,07
Envío por EUR 7,45
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 428 241 Illus.
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High-Resolution X-Ray Scattering
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Dez 2011, 2011
ISBN 10: 1441923071 ISBN 13: 9781441923073
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 96,29
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials. For example, optoelectronics requires a subsequent epitaxy of thin layers of different semiconductor materials. Here, the individuallayer thicknesses are scaled down to a few atomic layers in order to exploit quantum effects. For reasons of electronic and optical confinement, these thin layers are embedded within much thicker cladding layers or stacks of multilayers of slightly different chemical composition. It is evident that the interface quality of those quantum weHs is quite important for the function of devices. Thin metallic layers often show magnetic properties which do not ap pear for thick layers or in bulk material. The investigation of the mutual interaction of magnetic and non-magnetic layers leads to the discovery of colossal magnetoresistance, for example. This property is strongly related to the thickness and interface roughness of covered layers.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 428 pp. Englisch.
