High-Resolution X-Ray Scattering from Thin Films and Multilayers (Springer Tracts in Modern Physics)

Holy, Vaclav, Pietsch, Ullrich, Baumbach, Tilo

ISBN 10: 354062029X ISBN 13: 9783540620297
Editorial: Springer, 1998
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Como Nuevo Encuadernación de tapa dura

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