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9783319998244 - Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials: 10 (Springer Series in Advanced Microelectronics, 10) de Schubert, Martin C.; ... (12 resultados)
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Lock-in Thermography. Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials.
Libro 63 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLibrería: Universitätsbuchhandlung Herta Hold GmbH, Berlin, Alemania
Miembro de asociación: GIAQ ILAB VDA
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 17,00
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carrito3rd Edition. xxi, 321 p. Hardcover. 3rd Edition. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, 10)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,57
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials: 10 (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Libro 63 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 231,13
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Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 175,09
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Libro 63 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 254,01
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 3rd edition. 344 pages. 9.25x6.10x1.18 inches. In Stock.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics (10))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 274,59
Envío por EUR 28,98
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Lock-in Thermography (eng)
Libro 63 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLibrería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 134,27
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Lock-in Thermography
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3319998242 ISBN 13: 9783319998244
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 144,94
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Describes an imaging technique for the evaluation of materials and electronic devicesDiscusses various new application fields of lock-in thermographyIs useful as a reference work for researchers and engineers alikeIncludes ext.
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Lock-in Thermography
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3319998242 ISBN 13: 9783319998244
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 171,19
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included. 344 pp. Englisch.
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Lock-in Thermography
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, Springer International Publishing Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3319998242 ISBN 13: 9783319998244
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 171,19
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 344 pp. Englisch.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials: 10 (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Libro 63 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 245,49
Envío por EUR 7,53
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials: 10 (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Libro 63 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 242,18
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