Breitenstein otwin (17 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Springer Series in Advanced Microelectronics, Libro 29 de 72. Libro 29 de 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino UnidoRia Christie Collections
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, Berlin, Springer Berlin Heidelberg, Springer, 2010
Serie: Springer Series in Advanced Microelectronics, Libro 29 de 72. Libro 29 de 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, AlemaniaAHA-BUCH GmbH
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Buch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In the last 7 years, the rst edition of 'Lock-in Thermography' has established as a reference book for all users of this technique for investigating electronic devices, especially solar cells. At this time, a vital further development of lock-in therm- ra…phy could be observed. Not only the experimental technique was improved by applying new and better infrared cameras, solid immersion lenses, and novel t- ing strategies, but also completely new application elds of lock-in thermography were established by implying irradiation of light during the measurements. The two groups of new techniques are different kinds of Illuminated Lock-In Thermography (ILIT) and Carrier Density Imaging, resp. Infrared Lifetime Imaging (CDI/ILM). While ILIT is performed on solar cells, CDI/ILM is performed on bare wafers for imaging the local minority carrier lifetime and the local concentration of trapping centers. The new edition of this book implements these new developments. One new section entitled 'Timing strategies' is added. In this, new ways are introduced to overcome previous limitations of the choice of the lock-in frequency in comparison with the frame rate of the camera. The previous diffraction limit of the spatial resolution can be overcome by a factor of up to 4 by applying so-called solid immersion lenses. This technique is introduced and its application for failure analysis of ICs, where highest possible spatial resolution is desired, is shown in another new section.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Springer Series in Advanced Microelectronics, Libro 63 de 72. Libro 63 de 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2010
Serie: Springer Series in Advanced Microelectronics, Libro 29 de 72. Libro 29 de 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer Verlag, 2019
Serie: Springer Series in Advanced Microelectronics, Libro 63 de 72. Libro 63 de 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Hardcover. Condición: Brand New. 3rd edition. 344 pages. 9.25x6.10x1.18 inches. In Stock.
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer Berlin Heidelberg, 2010
Serie: Springer Series in Advanced Microelectronics, Libro 29 de 72. Libro 29 de 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer Berlin Heidelberg, 2010
Serie: Springer Series in Advanced Microelectronics, Libro 29 de 72. Libro 29 de 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer Berlin Heidelberg Sep 2010, 2010
Serie: Springer Series in Advanced Microelectronics, Libro 29 de 72. Libro 29 de 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book deals with lock-in thermography (LIT) as a special active dynamic variant of the well-known IR thermography. It enables a much improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-st…ate thermography. The book concentrates on applications to electronic devices and materials, but the basic chapters are useful as well for non-destructive evaluation. Various experimental approaches to LIT are reviewed with special emphasis to different available commercial LIT systems. New LIT applications are reviewed, like Illuminated LIT applied to solar cells , and non-thermal LIT lifetime mapping. Typical LIT investigation case studies are introduced. 268 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Springer Series in Advanced Microelectronics, Libro 63 de 72. Libro 63 de 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, ItaliaBrook Bookstore On Demand
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Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna
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Gebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Describes an imaging technique for the evaluation of materials and electronic devicesDiscusses various new application fields of lock-in thermographyIs useful as a reference work for researchers and engineer…s alikeIncludes ext.
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Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, AlemaniaBuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Peri…odically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included. 344 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer International Publishing, Springer International Publishing Jan 2019, 2019
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Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemaniabuchversandmimpf2000
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Buch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodic…ally modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 344 pp. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Springer Series in Advanced Microelectronics, Libro 63 de 72. Libro 63 de 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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Idioma: Inglés
Editorial: Springer, 2019
Serie: Springer Series in Advanced Microelectronics, Libro 63 de 72. Libro 63 de 72 - Springer Series in Advanced Microelectronics
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Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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