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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, 10)
Libro 29 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 115,66
Envío por EUR 13,89
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics, 10)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 164,57
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Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Libro 29 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsIdioma: Inglés
Publicado por Springer, Berlin, Springer Berlin Heidelberg, Springer, 2010
ISBN 10: 3642024165 ISBN 13: 9783642024160
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 112,94
Envío por EUR 62,81
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - In the last 7 years, the rst edition of 'Lock-in Thermography' has established as a reference book for all users of this technique for investigating electronic devices, especially solar cells. At this time, a vital further development of lock-in therm- raphy could be observed. Not only the experimental technique was improved by applying new and better infrared cameras, solid immersion lenses, and novel t- ing strategies, but also completely new application elds of lock-in thermography were established by implying irradiation of light during the measurements. The two groups of new techniques are different kinds of Illuminated Lock-In Thermography (ILIT) and Carrier Density Imaging, resp. Infrared Lifetime Imaging (CDI/ILM). While ILIT is performed on solar cells, CDI/ILM is performed on bare wafers for imaging the local minority carrier lifetime and the local concentration of trapping centers. The new edition of this book implements these new developments. One new section entitled 'Timing strategies' is added. In this, new ways are introduced to overcome previous limitations of the choice of the lock-in frequency in comparison with the frame rate of the camera. The previous diffraction limit of the spatial resolution can be overcome by a factor of up to 4 by applying so-called solid immersion lenses. This technique is introduced and its application for failure analysis of ICs, where highest possible spatial resolution is desired, is shown in another new section.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials: 10 (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Libro 63 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 231,13
Envío por EUR 3,50
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Libro 29 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 222,06
Envío por EUR 28,98
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Libro 63 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 254,01
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 3rd edition. 344 pages. 9.25x6.10x1.18 inches. In Stock.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics (10))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 274,59
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 372,48
Envío por EUR 28,98
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Lock-in Thermography
Libro 29 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10: 3642024165 ISBN 13: 9783642024160
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 117,48
Envío por EUR 5,82
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoHRD. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Lock-in Thermography
Libro 29 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg, 2010
ISBN 10: 3642024165 ISBN 13: 9783642024160
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoHRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Lock-in Thermography
Libro 29 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsIdioma: Inglés
Publicado por Springer Berlin Heidelberg Sep 2010, 2010
ISBN 10: 3642024165 ISBN 13: 9783642024160
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 106,99
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Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book deals with lock-in thermography (LIT) as a special active dynamic variant of the well-known IR thermography. It enables a much improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. The book concentrates on applications to electronic devices and materials, but the basic chapters are useful as well for non-destructive evaluation. Various experimental approaches to LIT are reviewed with special emphasis to different available commercial LIT systems. New LIT applications are reviewed, like Illuminated LIT applied to solar cells , and non-thermal LIT lifetime mapping. Typical LIT investigation case studies are introduced. 268 pp. Englisch.
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Lock-in Thermography (eng)
Libro 63 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLibrería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 134,27
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Lock-in Thermography
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2019
ISBN 10: 3319998242 ISBN 13: 9783319998244
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 144,94
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Describes an imaging technique for the evaluation of materials and electronic devicesDiscusses various new application fields of lock-in thermographyIs useful as a reference work for researchers and engineers alikeIncludes ext.
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Lock-in Thermography
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3319998242 ISBN 13: 9783319998244
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 171,19
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included. 344 pp. Englisch.
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Lock-in Thermography
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, Springer International Publishing Jan 2019, 2019
ISBN 10: 3319998242 ISBN 13: 9783319998244
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 171,19
Envío por EUR 60,00
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg 344 pp. Englisch.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials: 10 (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Libro 63 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 245,49
Envío por EUR 7,53
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand.
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Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials: 10 (Springer Series in Advanced Microelectronics)
Libro 63 de 72: Springer Series in Advanced MicroelectronicsLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 242,18
Envío por EUR 9,95
Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
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