Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials

Breitenstein, Otwin/ Warta, Wilhelm/ Schubert, Martin C.

ISBN 10: 3319998242 ISBN 13: 9783319998244
Editorial: Springer Verlag, 2019
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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