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9783031153471 - Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits de Raji, Mohsen; Ghavami, Behnam (11 resultados)
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 90,87
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Ci
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 116,10
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 120 pages. 9.25x6.10x0.28 inches. In Stock.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Librería: preigu, Osnabrück, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits | Mohsen Raji (u. a.) | Taschenbuch | xiii | Englisch | 2023 | Springer | EAN 9783031153471 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2023
ISBN 10: 3031153472 ISBN 13: 9783031153471
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing Nov 2023, 2023
ISBN 10: 3031153472 ISBN 13: 9783031153471
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 90,94
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits. 124 pp. Englisch.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Ci
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 116,77
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Print on Demand pp. 124.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer International Publishing, 2023
ISBN 10: 3031153472 ISBN 13: 9783031153471
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 79,10
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Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Provides an easy-to-follow procedure for analyzing lifetime reliability of nano-scale digital circuitsDescribes state-of-the art aging- and process variation-aware CAD algorithmsIncludes reliability improvement techniques for common clocked.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Ci
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 118,93
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Añadir al carritoCondición: New. PRINT ON DEMAND pp. 124.
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Lifetime Reliability-aware Design of Integrated Circuits
Idioma: Inglés
Publicado por Springer, Springer Nov 2023, 2023
ISBN 10: 3031153472 ISBN 13: 9783031153471
Librería: buchversandmimpf2000, Emtmannsberg, BAYE, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - Print on Demand Titel. Neuware -This book covers the state-of-the-art research in design of modern electronic systems used in safety-critical applications such as medical devices, aircraft flight control, and automotive systems. The authors discuss lifetime reliability of digital systems, as well as an overview of the latest research in the field of reliability-aware design of integrated circuits. They address modeling approaches and techniques for evaluation and improvement of lifetime reliability for nano-scale CMOS digital circuits, as well as design algorithms that are the cornerstone of Computer Aided Design (CAD) of reliable VLSI circuits. In addition to developing lifetime reliability analysis and techniques for clocked storage elements (such as flip-flops), the authors also describe analysis and improvement strategies targeting commercial digital circuits.Springer-Verlag KG, Sachsenplatz 4-6, 1201 Wien 124 pp. Englisch.
