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9781848219366 - Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2) de Dahoo, Pierre-Richar... (19 resultados)
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Hardcover)
Idioma: Inglés
Publicado por ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, London, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Librería: Grand Eagle Retail, Bensenville, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 152,05
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Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Hardcover. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 149,73
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 153,89
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 155,75
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Idioma: Inglés
Publicado por ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,73
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Añadir al carritoHardback. Condición: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Librería: Ubiquity Trade, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 189,70
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems)
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 173,49
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Idioma: Inglés
Publicado por ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Librería: THE SAINT BOOKSTORE, Southport, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 174,88
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Idioma: Inglés
Publicado por ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 183,03
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Añadir al carritoCondición: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley & Sons, Ltd., 2015
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 166,43
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Añadir al carritoCondición: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.Klappentext.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Idioma: Inglés
Publicado por Iste/Hermes Science Pub, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 219,93
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 200 pages. 10.00x6.50x1.00 inches. In Stock.
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Idioma: Inglés
Publicado por ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 225,58
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Añadir al carritoCondición: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Idioma: Inglés
Publicado por ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Librería: Rarewaves.com UK, London, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 171,21
Envío por EUR 74,91
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Hardcover)
Idioma: Inglés
Publicado por ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, London, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Librería: AussieBookSeller, Truganina, VIC, Australia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 266,71
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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Idioma: Inglés
Publicado por Iste/Hermes Science Pub, 2016
ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 207,09
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