Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light

Idioma: inglés

Editorial: John Wiley & Sons, Ltd., 2016

1848219369 / 9781848219366

Librería: moluna, Greven, Alemaniamoluna

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de AbeBooks desde 9 de julio de 2020

Ver los artículos de este vendedor
Tapa dura

Condición: Nuevo

EUR 165,88

Envío por EUR 48,99 
Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito
Devoluciones gratuitas de 30 días

Descripción del artículo del vendedor

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.Klappentext.

N° de ref. del artículo 448373041

Título
Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Autor
PR Dahoo
Editorial
John Wiley & Sons, Ltd.
Año de publicación
2016
Estado
New
Encuadernación
Encuadernación de tapa dura
Idioma
inglés
ISBN 10
1848219369
ISBN 13
9781848219366
Catálogos de vendedores
Importe

moluna

Greven, Alemania

Vendedor de 5 estrellas

Vendedor de AbeBooks desde 9 de julio de 2020

Tarifas de envío de Alemania a Estados Unidos de America

ArtículoDe 26 a 60 días hábilesDe 26 a 60 días hábiles
Primer artículoEUR 48,99EUR 48,99
Los plazos de entrega los establecen los vendedores y varían según el transportista y la ubicación. Los pedidos que pasan por la aduana pueden sufrir retrasos y los compradores son responsables de los aranceles o tarifas asociadas. Los vendedores pueden ponerse en contacto con usted en relación con cargos adicionales para cubrir cualquier aumento en los costes de envío de los artículos.

Métodos de pago

  • Visa
  • Mastercard
  • American Express
  • Carte Bleue
  • Apple Pay
  • Google Pay
  • Cheque
  • Giro bancario
  • PayPal

Descripción de la tienda

Online Handel nur mit Neubüchern

Información empresarial del vendedor

Moluna GmbH

Engberdingdamm 27
Greven, Alemania 48268