Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami

ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Editorial: ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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