Artículos relacionados a Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light...
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2) - Tapa dura
Sinopsis
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.
"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Acerca del autor
Pierre Richard Dahoo is Professor at the University of Versailles Saint-Quentin in France. His research interests include absorption spectroscopy, laser-induced fluorescence, ellipsometry, optical molecules, industrial materials, modeling and simulation. He is program manager of the Chair Materials Simulation and Engineering of UVSQ.
Philippe Pougnet is a Doctor in Engineering. He is an expert in reliability and product-process technology at Valeo and is currently working for the Vedecom Institute in Versailles, France. He is in charge of assessing the reliability of innovative power electronic systems.
Abdelkhalak El Hami is Professor at the Institut National des Sciences Appliquées (INSA-Rouen) in France and is in charge of the Normandy Conservatoire National des Arts et Metiers (CNAM) Chair of Mechanics, as well as several European pedagogical projects.
"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Resultados de la búsqueda para Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light...
Imagen del vendedor
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: As New. Unread book in perfect condition. Nº de ref. del artículo: 24984924
Comprar usado
EUR 149,22
Envío por EUR 2,28
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 8 disponibles
Imagen de archivo
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
HRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. Established seller since 2000. Nº de ref. del artículo: FW-9781848219366
Comprar nuevo
EUR 166,13
Envío por EUR 5,85
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen del vendedor
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: As New. Unread book in perfect condition. Nº de ref. del artículo: 24984924
Comprar usado
EUR 155,29
Envío por EUR 17,49
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 8 disponibles
Imagen del vendedor
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. Nº de ref. del artículo: 24984924-n
Comprar nuevo
EUR 174,79
Envío por EUR 2,28
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 8 disponibles
Imagen de archivo
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Condición: New. Nº de ref. del artículo: I-9781848219366
Comprar nuevo
EUR 178,48
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen del vendedor
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. Nº de ref. del artículo: 24984924-n
Comprar nuevo
EUR 166,12
Envío por EUR 17,49
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 8 disponibles
Imagen del vendedor
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Publicado por
ISTE Ltd and John Wiley and Sons Inc, GB, 2016
ISBN 10: 1848219369
ISBN 13: 9781848219366
Nuevo
Tapa dura
Librería: Rarewaves.com USA, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardback. Condición: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale. Nº de ref. del artículo: LU-9781848219366
Comprar nuevo
EUR 183,66
Gastos de envío gratis
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. In English. Nº de ref. del artículo: ria9781848219366_new
Comprar nuevo
EUR 176,58
Envío por EUR 13,17
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 2 disponibles
Imagen de archivo
Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light
Publicado por
ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc, 2016
ISBN 10: 1848219369
ISBN 13: 9781848219366
Nuevo
Tapa dura
Original o primera edición
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light. Num Pages: 316 pages, black & white illustrations. BIC Classification: TBN; TGMT; TTB. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 242 x 164 x 22. Weight in Grams: 622. . 2016. 1st Edition. Hardcover. . . . . Nº de ref. del artículo: V9781848219366
Comprar nuevo
EUR 183,03
Envío por EUR 9,50
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de America
Se envía de Irlanda a Estados Unidos de America
Cantidad disponible: 15 disponibles
Imagen de archivo
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems, 2)
Librería: Ubiquity Trade, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. Brand new! Please provide a physical shipping address. Nº de ref. del artículo: 9781848219366
Comprar nuevo
EUR 190,61
Envío por EUR 2,59
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Se envía dentro de Estados Unidos de America
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles