Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems)

Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami

ISBN 10: 1848219369 ISBN 13: 9781848219366
Editorial: ISTE Ltd. 2016-08-12, 2016
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

Vendido por Chiron Media, Wallingford, Reino Unido

Vendedor de AbeBooks desde 2 de agosto de 2010

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa dura

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 173,49
Envío por EUR 17,85
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 2 disponibles

Añadir al carrito