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9780471731726 - Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies: 12 (IEEE Press Series on Microelectronic Systems) de Strong, Alvin W.; Wu, Ernest Y.; Vollertsen, Rolf... (22 resultados)
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Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Librería: Romtrade Corp., STERLING HEIGHTS, MI, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 134,31
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Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
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Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
Librería: SMASS Sellers, IRVING, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 139,00
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 155,22
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 624.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 163,76
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 158,27
Envío por EUR 7,64
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 161,58
Envío por EUR 9,95
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 624.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (eng)
Librería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 168,46
Envío por EUR 8,00
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 173,89
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 167,07
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley and Sons Ltd, 2009
ISBN 10: 0471731722 ISBN 13: 9780471731726
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 228,03
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Añadir al carritoCondición: New. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. Series: IEEE Press Series on Microelectronic Systems. Num Pages: 624 pages, Illustrations. BIC Classification: TJFC; UY. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 162 x 34. Weight in Grams: 982. . 2009. 1st Edition. Hardcover. . . . .
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 195,70
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Añadir al carritoCondición: New. ALVIN W. STRONG, PhD, is retired from IBM in Essex Junction, Vermont. He holds nineteen patents, has authored or coauthored a number of papers, and is a member of the IEEE and chair of the JEDEC 14.2 standards subcommittee.ERNEST Y. WU, PhD, is a Senior Tec.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 240,99
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (IEEE Press Series on Microelectronic Systems)
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 231,32
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 266,15
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Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: As New. Unread book in perfect condition.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 267,27
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 624 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock.
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Edición internacionalRELIABILITY WEAROUT MECHANISMS IN ADVANCED CMOS TECHNOLOGIES (HB 2009)
Librería: UK BOOKS STORE, London, LONDO, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 295,19
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Añadir al carritoCondición: New. Brand New! Fast Delivery This is an International Edition and ship within 24-48 hours. Deliver by FedEx and Dhl, & Aramex, UPS, & USPS and we do accept APO and PO BOX Addresses. Order can be delivered worldwide within 6-10 days and we do have flat rate for up to 2LB. Extra shipping charges will be requested if the Book weight is more than 5 LB. This Item May be shipped from India, United states & United Kingdom. Depending on your location and availability.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley and Sons Ltd, 2009
ISBN 10: 0471731722 ISBN 13: 9780471731726
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 290,49
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Añadir al carritoCondición: New. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. Series: IEEE Press Series on Microelectronic Systems. Num Pages: 624 pages, Illustrations. BIC Classification: TJFC; UY. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 235 x 162 x 34. Weight in Grams: 982. . 2009. 1st Edition. Hardcover. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 274,25
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. Neuware - A comprehensive treatment of all aspects of CMOS reliability wearout mechanismsThis book covers everything students and professionals need to know about CMOS reliability wearout mechanisms, from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. It is the first book of its kind to bring together the pertinent physics, equations, and procedures for CMOS technology reliability in one place. Divided into six relatively independent topics, the book covers:\* Introduction to Reliability\* Gate Dielectric Reliability\* Negative Bias Temperature Instability\* Hot Carrier Injection\* Electromigration Reliability\* Stress VoidingChapters conclude with practical appendices that provide very basic experimental procedures for readers who are conducting reliability experiments for the first time. Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies is ideal for students and new engineers who are looking to gain a working understanding of CMOS technology reliability. It is also suitable as a professional reference for experienced circuit design engineers, device design engineers, and process engineers.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 246,99
Envío por EUR 14,70
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 624 pages. 9.50x6.50x1.25 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies (Hardcover)
Idioma: Inglés
Publicado por John Wiley & Sons Inc, Chicester, 2009
ISBN 10: 0471731722 ISBN 13: 9780471731726
Librería: CitiRetail, Stevenage, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición Impresión bajo demanda
EUR 233,73
Envío por EUR 43,51
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Hardcover. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanismsfrom basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections. This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. This item is printed on demand. Shipping may be from our UK warehouse or from our Australian or US warehouses, depending on stock availability.
