9780367400972 - influence of temperature on microelectronics and system reliability: a physics of failure approach de lall, pradeep; pecht, michael; hakim, edward b. (16 resultados)
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Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Pradeep Lall, Michael G. Pecht, Edward B. HakimThis book raises the level of understanding of thermal design criteria. It provides the design team with sufficient knowledge to help them evaluate device architecture tr…ade-offs and the effec.
