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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Budget Books, Pasadena, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Original o primera edición
EUR 10,77
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Plastic-Encapsulated Microelectronics: Materials, Processes, Quality, Reliability, and Applications
Librería: Florida Mountain Book Co., Datil, NM, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 17,95
Envío por EUR 4,79
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Añadir al carritoCondición: Very Good. Hardcover, [xxxiv], 474 pages. Very Good condition/no dust jacket. Ex-library. Size 9.5"x6.5". "For the first time between two covers, here is a comprehensive, critical review of the state of the art in PEMs and assemblies that incorporate them. The most timely book on the subject, it provides professionals with a systematic, scientific exploration of crucial technical and reliability issues concerning the manufacture and use of PEMs - with special attention focusing on environment-specific applications." Library stamp on front pastedown & title page, previous owner's name on front & rear pastedowns, else Near Fine condition, clean and unmarked.
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Plastic-Encapsulated Microelectronics: Materials, Processes, Quality, Reliability, and Applications
Librería: ThriftBooks-Atlanta, AUSTELL, GA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 32,30
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. No Jacket. May have limited writing in cover pages. Pages are unmarked. ~ ThriftBooks: Read More, Spend Less.
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Plastic-Encapsulated Microelectronics: Materials, Processes, Quality, Reliability, and Applications
Librería: ThriftBooks-Dallas, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 32,30
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 44,85
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 52,84
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 61,10
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 55,76
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
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Plasticâ"Encapsulated Microelectronics: Materials, Processes, Quality, Reliability, and Applications
Librería: WeBuyBooks, Rossendale, LANCS, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 56,35
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 55,00
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 69,68
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Añadir al carritoCondición: New. 1st edition NO-PA16APR2015-KAP.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability : A Physics of Failure Approach
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 58,07
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 63,06
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 66,08
Envío por EUR 9,95
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INFLUENCE OF TEMPERATURE ON MICROELECTRONICS AND SYSTEM RELIABILITY
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 84,62
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Añadir al carritoCondición: Brand New. New. US edition. Expediting shipping for all USA and Europe orders excluding PO Box. Excellent Customer Service.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 87,56
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 336 pages. 10.00x7.01x0.67 inches. In Stock.
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Microelectronic Reliability, Vol. 1: Reliability, Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition)
Idioma: Inglés
Publicado por Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Librería: Book Alley, Pasadena, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 139,90
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 116,39
Envío por EUR 28,83
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 147,21
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
Idioma: Inglés
Publicado por Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 153,80
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Microelectronic Reliability, Vol. 1: Reliability, Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition)
Idioma: Inglés
Publicado por Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 156,18
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 137,10
Envío por EUR 17,86
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 5 disponibles
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 157,24
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 140,05
Envío por EUR 17,30
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
Idioma: Inglés
Publicado por Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 166,42
Envío por EUR 2,30
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Microelectronic Reliability, Vol. 1: Reliability, Test and Diagnostics (Artech House Materials Science Library) (English and Italian Edition)
Idioma: Inglés
Publicado por Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 156,42
Envío por EUR 13,81
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Libro 4 de 4: Electronic PackagingLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 153,78
Envío por EUR 17,30
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Microelectronic Reliability : Reliability, Test and Diagnostics
Idioma: Inglés
Publicado por Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 156,41
Envío por EUR 17,30
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Reliability, Test and Diagnostics (v. 1) (Materials science library)
Idioma: Inglés
Publicado por Artech House Publishers, 1989
ISBN 10: 0890062846 ISBN 13: 9780890062845
Librería: Rarewaves USA, OSWEGO, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 175,39
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Añadir al carritoPaperback. Condición: New. Illustrated.
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Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach (Electronic Packaging)
Libro 4 de 4: Electronic PackagingIdioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 1997
ISBN 10: 0849394503 ISBN 13: 9780849394508
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 184,37
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 336 1st Edition.
