Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach

Libro 4 de 4: Electronic Packaging

Lall, Pradeep; Pecht, Michael; Hakim, Edward B.

ISBN 10: 0367400979 ISBN 13: 9780367400972
Editorial: CRC Press, 2020
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa blanda

Vendido por Majestic Books, Hounslow, Reino Unido

Vendedor de AbeBooks desde 19 de enero de 2007

Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas Valoración 4 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa blanda

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 52,35
Envío por EUR 7,49
Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 3 disponibles

Añadir al carrito