Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach

Idioma: inglés

Editorial: CRC Press 2019-06-19, 2019

0367400979 / 9780367400972

Serie: Libro 4 de 4 - Electronic Packaging

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Título
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability: A Physics of Failure Approach
Autor
Pradeep Lall, Michael G. Pecht, Edward B. Hakim
Editorial
CRC Press 2019-06-19
Año de publicación
2019
Estado
New
Encuadernación
Paperback
Idioma
inglés
ISBN 10
0367400979
ISBN 13
9780367400972
Serie
Libro 4 de 4: Electronic Packaging

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