9780128172469 - scanning nonlinear dielectric microscopy: investigation of ferroelectric, dielectric, and semiconductor materials and devices (woodhead publishing series in electronic and optical materials) de cho, yasuo (14 resultados)
Idioma: Inglés
Editorial: Woodhead Publishing, 2020
Serie: Libro 135 de 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Editorial: Woodhead Publishing, 2020
Serie: Libro 135 de 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Editorial: Woodhead Publishing, 2020
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Editorial: Woodhead Publishing, 2020
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Editorial: Woodhead Publishing, 2020
Serie: Libro 135 de 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Editorial: Woodhead Publishing, 2020
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Editorial: Woodhead Publishing, 2020
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Editorial: Woodhead Publishing, 2020
Serie: Libro 135 de 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Taschenbuch. Condición: Neu. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy | Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices | Yasuo Cho | Taschenbuch | Einband - flex.(Paperback) | Englisch | 2020 | Woodhead Publishing | EAN 9780128172469 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG,…Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
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Editorial: Woodhead Publishing, 2020
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Idioma: Inglés
Editorial: Elsevier Science, 2020
Serie: Libro 135 de 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Condición: New. Presents an in-depth look at the SNDM materials characterization technique by its inventor Reviews key materials applications, such as measurement of ferroelectric materials at the nanoscale and measurement of semiconductor materials and d.
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Editorial: Woodhead Publishing, 2020
Serie: Libro 135 de 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Idioma: Inglés
Editorial: Elsevier Science & Technology, Woodhead Publishing, 2020
Serie: Libro 135 de 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices is the definitive reference on an important tool to characterize ferroelectric, dielectric and semiconduct…or materials. Written by the inventor, the book reviews the methods for applying the technique to key materials applications, including the measurement of ferroelectric materials at the atomic scale and the visualization and measurement of semiconductor materials and devices at a high level of sensitivity. Finally, the book reviews new insights this technique has given to material and device physics in ferroelectric and semiconductor materials. The book is appropriate for those involved in the development of ferroelectric, dielectric and semiconductor materials devices in academia and industry. Englisch.
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Editorial: Woodhead Pub Ltd, 2020
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Editorial: Elsevier Science & Technology, Woodhead Publishing, 2020
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Taschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices is the definitive reference on an important tool to characterize ferroelectric, dielectric and semiconductor ma…terials. Written by the inventor, the book reviews the methods for applying the technique to key materials applications, including the measurement of ferroelectric materials at the atomic scale and the visualization and measurement of semiconductor materials and devices at a high level of sensitivity. Finally, the book reviews new insights this technique has given to material and device physics in ferroelectric and semiconductor materials. The book is appropriate for those involved in the development of ferroelectric, dielectric and semiconductor materials devices in academia and industry.
