Cho yasuo (23 resultados)
Editorial: The Asahi Shimbun Company 2005
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Editorial: Kaiseisha 1981
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Editorial: Subaru shobo 1977
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Editorial: Morimitsu-sha 1971
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Editorial: Subaru shobo N.A
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Editorial: Shoshi Eureka 1958
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Condición: Fine. Number of pages: 64 pages.
Editorial: Kobunsha 2022
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Condición: Fine. Number of pages: 322p Size: 18cm Number of books: 1 book.
Idioma: Inglés
Editorial: Woodhead Publishing 2020
Serie: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials, Libro 135 de 203. Libro 135 de 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Idioma: Inglés
Editorial: Woodhead Publishing 2020
Serie: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials, Libro 135 de 203. Libro 135 de 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Editorial: Woodhead Publishing 2020
Serie: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials, Libro 135 de 203. Libro 135 de 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Idioma: Inglés
Editorial: Woodhead Publishing 2020
Serie: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials, Libro 135 de 203. Libro 135 de 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials
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Idioma: Inglés
Editorial: Woodhead Publishing 2020
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Idioma: Inglés
Editorial: Woodhead Publishing 2020
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Condición: New. In.
Idioma: Inglés
Editorial: Woodhead Publishing 2020
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Condición: New.
Idioma: Inglés
Editorial: Woodhead Publishing 2020
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Taschenbuch. Condición: Neu. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy | Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices | Yasuo Cho | Taschenbuch | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 2020 | Woodhead Publishing | EAN 9780128172469 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG,…Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
Idioma: Inglés
Editorial: Woodhead Publishing 2020
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Idioma: Inglés
Editorial: Elsevier Science 2020
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Kartoniert / Broschiert. Condición: New. Presents an in-depth look at the SNDM materials characterization technique by its inventor Reviews key materials applications, such as measurement of ferroelectric materials at the nanoscale and measurement of semiconductor materials and d.
Editorial: Doshin-sha 1984
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Condición: Fine. Number of books: 6 books.
Editorial: Kokusai Johosha 1962
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Idioma: Inglés
Editorial: Woodhead Publishing 2020
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Editorial: Elsevier Science & Technology, Woodhead Publishing 2020
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Taschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices is the definitive reference on an important tool to characterize ferroelectric, dielectric and semiconduct…or materials. Written by the inventor, the book reviews the methods for applying the technique to key materials applications, including the measurement of ferroelectric materials at the atomic scale and the visualization and measurement of semiconductor materials and devices at a high level of sensitivity. Finally, the book reviews new insights this technique has given to material and device physics in ferroelectric and semiconductor materials. The book is appropriate for those involved in the development of ferroelectric, dielectric and semiconductor materials devices in academia and industry. Englisch.
Idioma: Inglés
Editorial: Woodhead Pub Ltd 2020
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Idioma: Inglés
Editorial: Elsevier Science & Technology, Woodhead Publishing 2020
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Taschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices is the definitive reference on an important tool to characterize ferroelectric, dielectric and semiconductor ma…terials. Written by the inventor, the book reviews the methods for applying the technique to key materials applications, including the measurement of ferroelectric materials at the atomic scale and the visualization and measurement of semiconductor materials and devices at a high level of sensitivity. Finally, the book reviews new insights this technique has given to material and device physics in ferroelectric and semiconductor materials. The book is appropriate for those involved in the development of ferroelectric, dielectric and semiconductor materials devices in academia and industry.
