Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

Idioma: inglés

Editorial: Elsevier Science & Technology, Woodhead Publishing, 2020

0128172460 / 9780128172469

Serie: Libro 135 de 203 - Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials

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This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices is the definitive reference on an important tool to characterize ferroelectric, dielectric and semiconductor materials. Written by the inventor, the book reviews the methods for applying the technique to key materials applications, including the measurement of ferroelectric materials at the atomic scale and the visualization and measurement of semiconductor materials and devices at a high level of sensitivity. Finally, the book reviews new insights this technique has given to material and device physics in ferroelectric and semiconductor materials. The book is appropriate for those involved in the development of ferroelectric, dielectric and semiconductor materials devices in academia and industry. Englisch.

N° de ref. del artículo 9780128172469

Título
Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
Autor
Yasuo Cho
Editorial
Elsevier Science & Technology, Woodhead Publishing
Año de publicación
2020
Estado
Neu
Encuadernación
Taschenbuch
Idioma
inglés
ISBN 10
0128172460
ISBN 13
9780128172469
Peso del artículo
420 gramos
Dimensiones
229x152x12 mm
Serie
Libro 135 de 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials

BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K.

Bergisch Gladbach, Alemania

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