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Chihiro's Dream Book's Dream (Chihiro Museum Collection III)
Publicado por The Asahi Shimbun Company, 2005
Librería: Sunny Day Bookstore, SINGAPORE, Singapur
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Japanese Children's Literature January 1981 Special feature on creative poetry essays
Publicado por Kaiseisha, 1981
Librería: Sunny Day Bookstore, SINGAPORE, Singapur
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 53,40
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Conversation with Chozo Tajima's book
Publicado por Subaru shobo, 1977
Librería: Sunny Day Bookstore, SINGAPORE, Singapur
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Japanese Children's Literature Vol. 17 Volume 1 January 1971 Volume 171
Publicado por Morimitsu-sha, 1971
Librería: Sunny Day Bookstore, SINGAPORE, Singapur
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Writers of books (1)
Publicado por Subaru shobo N.A
Librería: Sunny Day Bookstore, SINGAPORE, Singapur
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Eureka Volume 3 Volume 8 Nobu Ooka Poet and Youth New Series
Publicado por Shoshi Eureka, 1958
Librería: Sunny Day Bookstore, SINGAPORE, Singapur
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
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Hagio Moto is here Kobunsha Shinsho
Publicado por Kobunsha, 2022
Librería: Sunny Day Bookstore, SINGAPORE, Singapur
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Añadir al carritoCondición: Fine. Number of pages: 322p Size: 18cm Number of books: 1 book.
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy : Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices
Libro 135 de 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices (Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials)
Libro 135 de 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsLibrería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices (Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials)
Libro 135 de 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsLibrería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy : Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices
Libro 135 de 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsLibrería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices (Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials)
Libro 135 de 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsLibrería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices (Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical Materials)
Libro 135 de 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsLibrería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy : Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices
Libro 135 de 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy | Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices
Libro 135 de 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsLibrería: preigu, Osnabrück, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy | Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices | Yasuo Cho | Taschenbuch | Einband - fest (Hardcover) | Englisch | 2020 | Woodhead Publishing | EAN 9780128172469 | Verantwortliche Person für die EU: preigu GmbH & Co. KG, Lengericher Landstr. 19, 49078 Osnabrück, mail[at]preigu[dot]de | Anbieter: preigu.
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy : Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices
Libro 135 de 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsLibrería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices
Libro 135 de 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsLibrería: moluna, Greven, Alemania
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Añadir al carritoKartoniert / Broschiert. Condición: New. Presents an in-depth look at the SNDM materials characterization technique by its inventor Reviews key materials applications, such as measurement of ferroelectric materials at the nanoscale and measurement of semiconductor materials and d.
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Complete collection of Takeji Hiratsuka's fairy tales Volumes 1-6 All 6 volumes 1 Pyun's flower 2 Iroha no Isoppu 3 Papa is a noppo and I am a little girl 4 Wind and petals 5 Tamamushi's story of sush.
Publicado por Doshin-sha, 1984
Librería: Sunny Day Bookstore, SINGAPORE, Singapur
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Kodou Book Kotori Volumes 13-24 April 1960 - April 1968 Combined edition (Volumes 13-24 are older brother and sister magazines of Kotori Book Kotori)
Publicado por Kokusai Johosha, 1962
Librería: Sunny Day Bookstore, SINGAPORE, Singapur
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices
Libro 135 de 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsLibrería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
Libro 135 de 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsIdioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science & Technology, Woodhead Publishing, 2020
ISBN 10: 0128172460 ISBN 13: 9780128172469
Librería: BuchWeltWeit Ludwig Meier e.K., Bergisch Gladbach, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. This item is printed on demand - it takes 3-4 days longer - Neuware -Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices is the definitive reference on an important tool to characterize ferroelectric, dielectric and semiconductor materials. Written by the inventor, the book reviews the methods for applying the technique to key materials applications, including the measurement of ferroelectric materials at the atomic scale and the visualization and measurement of semiconductor materials and devices at a high level of sensitivity. Finally, the book reviews new insights this technique has given to material and device physics in ferroelectric and semiconductor materials. The book is appropriate for those involved in the development of ferroelectric, dielectric and semiconductor materials devices in academia and industry. Englisch.
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices
Libro 135 de 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsLibrería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
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Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 500 pages. 9.00x6.00x0.71 inches. In Stock. This item is printed on demand.
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Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy : Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices
Libro 135 de 203: Woodhead Publishing Series in Electronic and Optical MaterialsIdioma: Inglés
Publicado por Elsevier Science & Technology, Woodhead Publishing, 2020
ISBN 10: 0128172460 ISBN 13: 9780128172469
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
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Añadir al carritoTaschenbuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy: Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices is the definitive reference on an important tool to characterize ferroelectric, dielectric and semiconductor materials. Written by the inventor, the book reviews the methods for applying the technique to key materials applications, including the measurement of ferroelectric materials at the atomic scale and the visualization and measurement of semiconductor materials and devices at a high level of sensitivity. Finally, the book reviews new insights this technique has given to material and device physics in ferroelectric and semiconductor materials. The book is appropriate for those involved in the development of ferroelectric, dielectric and semiconductor materials devices in academia and industry.
