Wen xiaoqing (54 resultados)
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Quantum-Dot Cellular Automata Circuits for Nanocomputing Applications
Sasamal, Trailokya (EDT); Gaur, Hari Mohan (EDT); Singh, Ashutosh Kumar (EDT); Wen, Xiaoqing (EDT)
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Quantum-Dot Cellular Automata Circuits for Nanocomputing Applications
Sasamal, Trailokya (EDT); Gaur, Hari Mohan (EDT); Singh, Ashutosh Kumar (EDT); Wen, Xiaoqing (EDT)
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Quantum-Dot Cellular Automata Circuits for Nanocomputing Applications
Sasamal, Trailokya (EDT); Gaur, Hari Mohan (EDT); Singh, Ashutosh Kumar (EDT); Wen, Xiaoqing (EDT)
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Quantum-Dot Cellular Automata Circuits for Nanocomputing Applications
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VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Wang, Laung-terng (Editor)/ Wu, Cheng-Wen (Editor)/ Wen, Xiaoqing (Editor)
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Quantum-Dot Cellular Automata Circuits for Nanocomputing Applications (Materials, Devices, and Circuits)
Trailokya Sasamal, Hari Mohan Gaur, Ashutosh Kumar Singh, Xiaoqing Wen
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Quantum-dot Cellular Automata Circuits for Nanocomputing Applications
Sasamal, Trailokya (EDT); Gaur, Hari Mohan (EDT); Singh, Ashutosh Kumar (EDT); Wen, Xiaoqing (EDT)
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Taschenbuch. Condición: Neu. Druck auf Anfrage Neuware - Printed after ordering - Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate power management strategies, such as dynamic voltage scaling, clock gating or power gating techniques, are used today to control the power dissipation during functional operation. The usage of these strategies has various implications on manufacturing test, and power-aware test is therefore increasingly becoming a major consideration during design-for-test and test preparation for low power devices. This book explores existing solutions for power-aware test and design-for-test of conventional circuits and systems, and surveys test strategies and EDA solutions for testing low power devices. …
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Taschenbuch. Condición: Neu. Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices | Patrick Girard (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9781489983138 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …
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Condición: gut. 2006. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon) In englischer Sprache. pages.
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