Patrick girard u a (4 resultados)

Autor: 
Refinar con la Búsqueda avanzada

Filtrar la búsqueda

  • Libros (4)

a

Intervalo de precios personalizado (EUR)

a

  • Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2024

    3031196414 / 9783031196416

    • Tapa blanda

    Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 59,40

    Envío por EUR 70,00 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 5 disponibles

    Taschenbuch. Condición: Neu. Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip | Patrick Girard (u. a.) | Taschenbuch | xi | Englisch | 2024 | Springer | EAN 9783031196416 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …

  • Más imágenes

    Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2013

    9400734913 / 9789400734913

    Serie: Libro 55 de 304 - Synthese Library

    • Tapa blanda

    Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 95,25

    Envío por EUR 70,00 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 5 disponibles

    Taschenbuch. Condición: Neu. Dynamic Formal Epistemology | Patrick Girard (u. a.) | Taschenbuch | Synthese Library | x | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9789400734913 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …

  • Más imágenes

    Idioma: Inglés

    Editorial: Springer, 2014

    1489983139 / 9781489983138

    • Tapa blanda

    Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Nuevo

    EUR 104,25

    Envío por EUR 70,00 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 5 disponibles

    Taschenbuch. Condición: Neu. Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices | Patrick Girard (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9781489983138 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu. …

  • Idioma: Alemán

    Editorial: Luchterhand-Literaturverl, Hamburg, 1992

    3630710611 / 9783630710617

    • Tapa blanda

    Librería: Butterfly Books GmbH & Co. KG, Herzebrock-Clarholz, AlemaniaButterfly Books GmbH & Co. KG

    Vendedor de 5 estrellas
    Contactar con el vendedor

    Condición: Usado - Excelente

    EUR 5,80

    Envío por EUR 60,00 
    Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

    Cantidad disponible: 1 disponible

    Taschenbuch oder Softcover. Condición: Sehr gut. 208 Seiten Zustand: AKZEPTABLER Zustand. HC1-199-5/8-00041342 Sprache: Deutsch Gewicht in Gramm: 159.