Patrick girard u a (3 resultados)

Autor

Filtrar la búsqueda

  • Libros (3)

  • Nuevo (3)

a

Intervalo de precios personalizado (EUR)

a

    • Idioma: Inglés

      Editorial: Springer, 2024

      3031196414 / 9783031196416

      • Tapa blanda

      Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu

      Vendedor de 5 estrellas
      Contactar con el vendedor

      Condición: Nuevo

      EUR 59,40

      Envío por EUR 70,00 
      Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

      Cantidad disponible: 5 disponibles

      Taschenbuch. Condición: Neu. Machine Learning Support for Fault Diagnosis of System-on-Chip | Patrick Girard (u. a.) | Taschenbuch | xi | Englisch | 2024 | Springer | EAN 9783031196416 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbiet

    • Más imágenes

      Idioma: Inglés

      Editorial: Springer, 2013

      9400734913 / 9789400734913

      Serie: Libro 55 de 304 - Synthese Library

      • Tapa blanda

      Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu

      Vendedor de 5 estrellas
      Contactar con el vendedor

      Condición: Nuevo

      EUR 95,25

      Envío por EUR 70,00 
      Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

      Cantidad disponible: 5 disponibles

      Taschenbuch. Condición: Neu. Dynamic Formal Epistemology | Patrick Girard (u. a.) | Taschenbuch | Synthese Library | x | Englisch | 2013 | Springer | EAN 9789400734913 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbieter: preigu.

    • Más imágenes

      Idioma: Inglés

      Editorial: Springer, 2014

      1489983139 / 9781489983138

      • Tapa blanda

      Librería: preigu, Osnabrück, Alemaniapreigu

      Vendedor de 5 estrellas
      Contactar con el vendedor

      Condición: Nuevo

      EUR 104,20

      Envío por EUR 70,00 
      Se envía de Alemania a Estados Unidos de America

      Cantidad disponible: 5 disponibles

      Taschenbuch. Condición: Neu. Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices | Patrick Girard (u. a.) | Taschenbuch | xxi | Englisch | 2014 | Springer | EAN 9781489983138 | Verantwortliche Person für die EU: Springer Verlag GmbH, Tiergartenstr. 17, 69121 Heidelberg, juergen[dot]hartmann[at]springer[dot]com | Anbiet