Artículos relacionados a VLSI Test Principles and Architectures: Design for...
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon) - Tapa dura
Sinopsis
This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.
"Sinopsis" puede pertenecer a otra edición de este libro.
Acerca de los autores
Laung-Terng Wang, Ph.D., is founder, chairman, and chief executive officer of SynTest Technologies, CA. He received his EE Ph.D. degree from Stanford University. A Fellow of the IEEE, he holds 18 U.S. Patents and 12 European Patents, and has co-authored/co-edited two internationally used DFT textbooks- VLSI Test Principles and Architectures (2006) and System-on-Chip Test Architectures (2007).
Kwang-Ting (Tim) Cheng, Ph.D., is a Professor and Chair of the Electrical and Computer Engineering Department at the University of California, Berkeley. A Fellow of the IEEE, he has published over 300 technical papers, co-authored three books, and holds 11 U.S. Patents.
"Sobre este título" puede pertenecer a otra edición de este libro.
- EditorialMorgan Kaufmann Publishers In
- Año de publicación2006
- ISBN 10 0123705975
- ISBN 13 9780123705976
- EncuadernaciónTapa dura
- IdiomaInglés
- Número de páginas808
- Contacto del fabricanteno disponible
Comprar nuevo
Ver este artículo
EUR 69,92
EUR 17,79 gastos de envío desde Reino Unido a España
Destinos, gastos y plazos de envíoOtras ediciones populares con el mismo título
Resultados de la búsqueda para VLSI Test Principles and Architectures: Design for...
Imagen del vendedor
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Publicado por
Morgan Kaufmann, 2006
ISBN 10: 0123705975
ISBN 13: 9780123705976
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: diakonia secondhand, München, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm. Nº de ref. del artículo: 34773
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
VLSI Test Principles and Architectures,: Design for Testability (Systems on Silicon)
Publicado por
Morgan Kaufmann 2006-08-14, 2006
ISBN 10: 0123705975
ISBN 13: 9780123705976
Nuevo
Tapa dura
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: New. Nº de ref. del artículo: 6666-ELS-9780123705976
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen de archivo
VLSI Test Principles and Archi
Publicado por
Morgan Kaufmann, 2006
ISBN 10: 0123705975
ISBN 13: 9780123705976
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: SecondSale, Montgomery, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Condición: Good. Item in good condition and has highlighting/writing on text. Used texts may not contain supplemental items such as CDs, info-trac etc. Nº de ref. del artículo: 00088791382
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
VLSI Test Principles and Architectures
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. pp. xxx + 777 Illus. Nº de ref. del artículo: 8277367
Cantidad disponible: 3 disponibles
Imagen de archivo
VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock. Nº de ref. del artículo: __0123705975
Cantidad disponible: 2 disponibles
Imagen de archivo
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Impresión bajo demandaLibrería: Brook Bookstore On Demand, Napoli, NA, Italia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: new. Questo è un articolo print on demand. Nº de ref. del artículo: 71e8e6509fa75136872c3990418e9a62
Cantidad disponible: Más de 20 disponibles
Imagen de archivo
VLSI Test Principles and Architectures
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
Condición: New. pp. xxx + 777. Nº de ref. del artículo: 26651944
Cantidad disponible: 3 disponibles
Imagen de archivo
VLSI Test Principles and Architectures
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Condición: New. pp. xxx + 777. Nº de ref. del artículo: 18651938
Cantidad disponible: 3 disponibles
Imagen de archivo
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Publicado por
Morgan Kaufmann, 2006
ISBN 10: 0123705975
ISBN 13: 9780123705976
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Good. Connecting readers with great books since 1972! Used textbooks may not include companion materials such as access codes, etc. May have some wear or writing/highlighting. We ship orders daily and Customer Service is our top priority! Nº de ref. del artículo: S_434502584
Cantidad disponible: 1 disponibles
Imagen de archivo
VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
Publicado por
Morgan Kaufmann, 2006
ISBN 10: 0123705975
ISBN 13: 9780123705976
Antiguo o usado
Tapa dura
Librería: SGS Trading Inc, Franklin Lakes, NJ, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
Hardcover. Condición: Good. Textbook, May Have Highlights, Notes and/or Underlining, BOOK ONLYNO ACCESS CODE, NO CD, Ships with Emailed Tracking. Nº de ref. del artículo: SKU0470215
Cantidad disponible: 2 disponibles