VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)

Wang, Laung-Terng, Cheng-Wen Wu and Xiaoqing Wen:

ISBN 10: 0123705975 ISBN 13: 9780123705976
Editorial: Morgan Kaufmann, 2006
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Bueno Encuadernación de tapa dura

Vendido por diakonia secondhand, München, Alemania

Vendedor de AbeBooks desde 9 de febrero de 2021

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Usado - Encuadernación de tapa dura

Condición: Usado - Bueno

Precio: EUR 40,66 Convertir moneda
EUR 12,00 gastos de envío desde Alemania a España Destinos, gastos y plazos de envío

Cantidad disponible: 1 disponibles

Añadir al carrito