VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)

Wang, Laung-Terng, Cheng-Wen Wu and Xiaoqing Wen:

ISBN 10: 0123705975 ISBN 13: 9780123705976
Editorial: Morgan Kaufmann, 2006
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Bueno Encuadernación de tapa dura

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