Vlsi test principles architectures (9 resultados)
- Tapa dura
Librería: Goodwill Books, Hillsboro, OR, Estados Unidos de AmericaGoodwill Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Regular
EUR 46,51
Envío por EUR 3,55Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: acceptable. Fairly worn, but readable and intact. If applicable: Dust jacket, disc or access code may not be included.
- Tapa dura
Librería: BooksRun, Philadelphia, PA, Estados Unidos de AmericaBooksRun
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 53,02
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Hardcover. Condición: Very Good. 1. It's a well-cared-for item that has seen limited use. The item may show minor signs of wear. All the text is legible, with all pages included. It may have slight markings and/or highlighting.
- Tapa dura
Librería: -OnTimeBooks-, Phoenix, AZ, Estados Unidos de America-OnTimeBooks-
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Aceptable
EUR 54,63
Gastos de envío gratisSe envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: good. A copy that has been read, remains in good condition. All pages are intact, and the cover is intact. The spine and cover show signs of wear. Pages can include notes and highlighting and show signs of wear, and the copy can include "From the library of" labels or previous owner inscriptions. 100% GUARANTEE! Shipped with delivery confirmation, if you're not satisfied with purchase please return item! Ships via media mail.…
- Tapa dura
Librería: diakonia secondhand, München, Alemaniadiakonia secondhand
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 40,66
Envío por EUR 35,00Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
- Tapa dura
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de AmericaBennettBooksLtd
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EUR 127,09
Envío por EUR 6,18Se envía dentro de Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
hardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 117,83
Envío por EUR 23,53Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Paperback. Condición: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Wang, Laung-terng (Editor)/ Wu, Cheng-Wen (Editor)/ Wen, Xiaoqing (Editor)
- Tapa dura
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Nuevo
EUR 124,80
Envío por EUR 23,53Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
- Tapa dura
Librería: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, AlemaniaBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
Contactar con el vendedorVendedor de 5 estrellasCondición: Usado - Bueno
EUR 179,90
Envío por EUR 39,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Condición: gut. 2006. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon) In englischer Sprache. pages.
- Tapa blanda
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
Contactar con el vendedorVendedor de 4 estrellasCondición: Nuevo
EUR 238,76
Envío por EUR 29,42Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponible
Paperback. Condición: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
