Vlsi test principles architectures (13 resultados)
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Librería: Goodwill Books, Hillsboro, OR, Estados Unidos de AmericaGoodwill Books
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EUR 48,95
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Condición: acceptable. Fairly worn, but readable and intact. If applicable: Dust jacket, disc or access code may not be included.
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Librería: Basi6 International, Irving, TX, Estados Unidos de AmericaBasi6 International
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Librería: diakonia secondhand, München, Alemaniadiakonia secondhand
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EUR 40,66
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Condición: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm.
- Tapa dura
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino UnidoChiron Media
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EUR 68,96
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Hardcover. Condición: New.
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Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino UnidoMajestic Books
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EUR 80,80
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Condición: New. pp. xxx + 777 Illus.
VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
Wang, Laung-terng (Editor)/ Wu, Cheng-Wen (Editor)/ Wen, Xiaoqing (Editor)
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Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 81,39
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Hardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 777 pages. 9.25x7.50x2.00 inches. In Stock.
- Tapa dura
Librería: Biblios, frankfurt am main, HESSE, AlemaniaBiblios
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EUR 99,24
Envío por EUR 9,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 3 disponibles
Condición: New. pp. xxx + 777.
- Tapa dura
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de AmericaBooks Puddle
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EUR 108,67
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Condición: New. pp. xxx + 777.
- Tapa dura
Librería: BennettBooksLtd, Los Angeles, CA, Estados Unidos de AmericaBennettBooksLtd
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EUR 123,51
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hardcover. Condición: New. In shrink wrap. Looks like an interesting title.
- Tapa blanda
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino UnidoRevaluation Books
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EUR 117,21
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Paperback. Condición: Brand New. 1st edition. 808 pages. 9.35x7.50x1.83 inches. In Stock.
- Tapa dura
Librería: BUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer, Wahlstedt, AlemaniaBUCHSERVICE / ANTIQUARIAT Lars Lutzer
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EUR 179,90
Envío por EUR 39,95Se envía de Alemania a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 1 disponibles
Condición: gut. 2006. VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon) In englischer Sprache. pages.
- Tapa blanda
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino UnidoMispah books
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EUR 237,49
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Paperback. Condición: New. NEW. SHIPS FROM MULTIPLE LOCATIONS. book.
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