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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon) - Tapa dura
Sinopsis
This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.
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Acerca de los autores
Laung-Terng Wang, Ph.D., is founder, chairman, and chief executive officer of SynTest Technologies, CA. He received his EE Ph.D. degree from Stanford University. A Fellow of the IEEE, he holds 18 U.S. Patents and 12 European Patents, and has co-authored/co-edited two internationally used DFT textbooks- VLSI Test Principles and Architectures (2006) and System-on-Chip Test Architectures (2007).
Kwang-Ting (Tim) Cheng, Ph.D., is a Professor and Chair of the Electrical and Computer Engineering Department at the University of California, Berkeley. A Fellow of the IEEE, he has published over 300 technical papers, co-authored three books, and holds 11 U.S. Patents.
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Publicado por
Morgan Kaufmann, 2006
ISBN 10: 0123705975
ISBN 13: 9780123705976
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Librería: HPB-Red, Dallas, TX, Estados Unidos de America
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Publicado por
Morgan Kaufmann, 2006
ISBN 10: 0123705975
ISBN 13: 9780123705976
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover)).
Publicado por
Morgan Kaufmann., 2006
ISBN 10: 0123705975
ISBN 13: 9780123705976
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1st ed. 21 x 24 cm. 808 pages. Hardcover. Versand aus Deutschland / We dispatch from Germany via Air Mail. Einband bestoßen, daher Mängelexemplar gestempelt, sonst sehr guter Zustand. Imperfect copy due to slightly bumped cover, apart from this in very good condition. Stamped. Sprache: Englisch. Nº de ref. del artículo: 6394VB
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon (Hardcover))
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Morgan Kaufmann, 2006
ISBN 10: 0123705975
ISBN 13: 9780123705976
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series In Systems On Silicon)
Publicado por
Morgan Kaufmann, 2006
ISBN 10: 0123705975
ISBN 13: 9780123705976
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Condición: Gut. 777 S. Einband hinten leicht eingedrückt. Schnitt unten dezent fleckig. Mit Bibliothek-Stempel. 518 Sprache: Englisch Gewicht in Gramm: 1800 Gebundene Ausgabe, Maße: 20.62 cm x 5.23 cm x 23.83 cm. Nº de ref. del artículo: 34773
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VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
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VLSI Test Principles and Architectures,: Design for Testability (Systems on Silicon)
Publicado por
Morgan Kaufmann 2006-08-14, 2006
ISBN 10: 0123705975
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VLSI Test Principles and Architectures
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VLSI Test Principles And Architectures: Design for Testability
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VLSI Test Principles and Architectures
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