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Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds. Materials Science Monographs. No. 31
Librería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 13,68
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Añadir al carritoCondición: Very Good. *Price HAS BEEN REDUCED by 10% until Monday, March 23 (weekend SALE item)* hardcover, 306 pp., ex library, but text and binding still clean and tight . - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 Proceedings of the Seventh International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) Held in Templin, Germany, 7-10 September 1997
Publicado por Institute of Physics, 1998
Librería: Peace of Mind Bookstore, Tulsa, OK, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 8,00
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. Professional book dealer with storefront since 1975. All orders are processed promptly and carefully packaged. ; 524 pages.
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![Imagen de archivo de Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) Held in Templin, Germany, 7-10 September 1997 [Institute of Physics Conference Series No. 160] a la venta por Tiber Books](https://pictures.abebooks.com/isbn/9780750305006-es-300.jpg)
Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) Held in Templin, Germany, 7-10 September 1997 [Institute of Physics Conference Series No. 160]
Idioma: Inglés
Publicado por Institute of Physics Publishing, Bristol / Philadelphia., 1998
ISBN 10: 0750305002 ISBN 13: 9780750305006
Librería: Tiber Books, Cockeysville, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 16,88
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Very Good. 8vo, hardcover. No dj. Vg condition. Ex-lib copy w/ blacked-out stamping on endpapers & text-block edge; contents bright & clean, binding tight. xx, 524 p., illus.
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Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds: International Symposium Proceedings
Librería: Ammareal, Morangis, Francia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
OportunidadEUR 5,84
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Bon. Ancien livre de bibliothèque. Traces d'usure sur la couverture. Couverture différente. Edition 1985. Ammareal reverse jusqu'à 15% du prix net de cet article à des organisations caritatives. ENGLISH DESCRIPTION Book Condition: Used, Good. Former library book. Signs of wear on the cover. Different cover. Edition 1985. Ammareal gives back up to 15% of this item's net price to charity organizations.
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors : Proceedings of the Seventh Conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997 (Conference Series., No. 160),
Idioma: Inglés
Publicado por Institute of Physics Publishing, 1998,, 1998
ISBN 10: 0750305002 ISBN 13: 9780750305006
Librería: Sutton Books, Norwich, VT, Estados Unidos de America
Miembro de asociación: IOBA
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 39,99
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Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds, II: Proceedings of the Second International Symposium on Defect Recognition and Image Processing . 27-29, 1987 (Materials science monographs)
Librería: Zubal-Books, Since 1961, Cleveland, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 47,41
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Añadir al carritoCondición: Good. *Price HAS BEEN REDUCED by 10% until Monday, March 23 (weekend SALE item)* 320 pp., hardcover, ex library else text clean and binding tight. - If you are reading this, this item is actually (physically) in our stock and ready for shipment once ordered. We are not bookjackers. Buyer is responsible for any additional duties, taxes, or fees required by recipient's country.
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, . 160 (Institute of Physics Conference Series)
Librería: Chiron Media, Wallingford, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 331,97
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 334,91
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Se envía de Reino Unido a Estados Unidos de AmericaCantidad disponible: 10 disponibles
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 357,92
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 365,86
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
Librería: GreatBookPricesUK, Woodford Green, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 363,65
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 1998
ISBN 10: 0750305002 ISBN 13: 9780750305006
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 409,21
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, ... 1997 (Institute of Physics Conference Series)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 412,14
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, ... 1997 (Institute of Physics Conference Series)
Librería: California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 438,11
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 1998
ISBN 10: 0750305002 ISBN 13: 9780750305006
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 432,21
Envío por EUR 9,95
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10
Idioma: Inglés
Publicado por Inst of Physics Pub Inc, 1998
ISBN 10: 0750305002 ISBN 13: 9780750305006
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 574,40
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Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 1st edition. 524 pages. 9.75x6.50x1.25 inches. In Stock.
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Weld seam image processing and intelligent defect recognition(Chinese Edition)
Idioma: Inglés
ISBN 10: 7307242877 ISBN 13: 9787307242876
Librería: liu xing, Nanjing, JS, China
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 73,98
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Añadir al carritopaperback. Condición: New. Language:Chinese.Paperback. Pub Date: 2024-02 Pages: 191 Publisher: Wuhan University Press This book addresses the practical problems and needs encountered in the radiographic inspection of welds in important fields such as nuclear power. chemical industry. and shipbuilding. Using digitized radiographic images of weld seams as the research object. it solves problems such as automatic defect identification. image enhancement based on human vision. digital storage and retrieval of radiographic .
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Doneker, J: Defect Recognition and Image Processing in Semic
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 320,81
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Añadir al carritoGebunden. Condición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Doneker, J.Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 provides a valuable overview of current techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This .
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Idioma: Inglés
Publicado por Taylor & Francis Group, 1998
ISBN 10: 0750305002 ISBN 13: 9780750305006
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 391,20
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Añadir al carritoCondición: New. pp. 548 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam This item is printed on demand.
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Librería: PBShop.store UK, Fairford, GLOS, Reino Unido
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EUR 419,81
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Añadir al carritoHRD. Condición: New. New Book. Delivered from our UK warehouse in 4 to 14 business days. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997
Librería: PBShop.store US, Wood Dale, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
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Añadir al carritoHRD. Condición: New. New Book. Shipped from UK. THIS BOOK IS PRINTED ON DEMAND. Established seller since 2000.
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Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997
Librería: AHA-BUCH GmbH, Einbeck, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 548,37
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Añadir al carritoBuch. Condición: Neu. nach der Bestellung gedruckt Neuware - Printed after ordering - Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 provides a valuable overview of current techniques used to assess, monitor, and characterize defects from the atomic scale to inhomogeneities in complete silicon wafers. This volume addresses advances in defect analyzing techniques and instrumentation and their application to substrates, epilayers, and devices. The book discusses the merits and limits of characterization techniques; standardization; correlations between defects and device performance, including degradation and failure analysis; and the adaptation and application of standard characterization techniques to new materials. It also examines the impressive advances made possible by the increase in the number of nanoscale scanning techniques now available. The book investigates defects in layers and devices, and examines the problems that have arisen in characterizing gallium nitride and silicon carbide.
