Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (DRIP VII) Held in Templin, Germany, 7-10 September 1997 [Institute of Physics Conference Series No. 160]

Donecker, J.; Rechenberg, I., eds.

ISBN 10: 0750305002 ISBN 13: 9780750305006
Editorial: Institute of Physics Publishing, Bristol / Philadelphia., 1998
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Bueno Encuadernación de tapa dura

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