Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10

International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (7th : 1997 : Templin, Germany)/ Donecker, J./ Rechenberg, I.

ISBN 10: 0750305002 ISBN 13: 9780750305006
Editorial: Inst of Physics Pub Inc, 1998
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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