Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the 7th International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (Drip Vii) Held in Templin, Germany, 7-10

International Conference on Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors (7th : 1997 : Templin, Germany); Donecker, J.; Rechenberg, I.

ISBN 10: 0750305002 ISBN 13: 9780750305006
Editorial: Routledge, 1998
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Como Nuevo Encuadernación de tapa dura

Vendido por GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America

Vendedor de AbeBooks desde 6 de abril de 2009

Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas Valoración 5 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Usado - Encuadernación de tapa dura

Condición: Usado - Como Nuevo

Precio:
EUR 364,81
Envío por EUR 2,27
Se envía dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: 10 disponibles

Añadir al carrito