Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997: Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, . 1997 (Institute of Physics Conference Series)

Doneker, J.; Rechenberg, I.

ISBN 10: 0750305002 ISBN 13: 9780750305006
Editorial: CRC Press, 1998
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

Vendido por California Books, Miami, FL, Estados Unidos de America

Vendedor de AbeBooks desde 27 de octubre de 2023

Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas Valoración 4 estrellas, Más información sobre las valoraciones de los vendedores

Ver los artículos de este vendedor


Nuevos - Encuadernación de tapa dura

Condición: Nuevo

Precio:
EUR 760,55
Gastos de envío gratis
Se envía dentro de Estados Unidos de America

Cantidad disponible: Más de 20 disponibles

Añadir al carrito