Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds, II: Proceedings of the Second International Symposium on Defect Recognition and Image Processing . 27-29, 1987 (Materials science monographs)

Eicke R. Weber

ISBN 10: 0444428925 ISBN 13: 9780444428929
Editorial: Elsevier, 1987
Idioma: Inglés
Condición: Usado - Aceptable Encuadernación de tapa dura

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