Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 : Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997

J. Doneker

ISBN 10: 0750305002 ISBN 13: 9780750305006
Editorial: CRC Press, 1998
Idioma: Inglés
Condición: Nuevo Encuadernación de tapa dura

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