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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 37,92
Convertir monedaEUR 14,90 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Publicado por New Age International Publisher, 2010
ISBN 10: 8184894295 ISBN 13: 9788184894295
Idioma: Inglés
Librería: dsmbooks, Liverpool, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 40,33
Convertir monedaEUR 31,22 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Solr Books, Lincolnwood, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 66,44
Convertir monedaEUR 64,51 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 165,81
Convertir monedaEUR 5,19 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 174,99
Convertir monedaEUR 9,89 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 352 2nd Edition.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 184,36
Convertir monedaEUR 10,23 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 352 52:B&W 6.14 x 9.21in or 234 x 156mm (Royal 8vo) Case Laminate on White w/Gloss Lam.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 227,75
Convertir monedaEUR 5,19 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. In.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (34))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 222,72
Convertir monedaEUR 28,91 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Like New. Like New. book.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 203,98
Convertir monedaEUR 64,51 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 204,39
Convertir monedaEUR 64,51 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 301,37
Convertir monedaEUR 11,56 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 2nd edition. 349 pages. 9.10x6.10x0.90 inches. In Stock.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 303,99
Convertir monedaEUR 11,56 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 2nd edition. 328 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,07
Convertir monedaEUR 19,49 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Wide coverage of topics in test engineeringUnique defect-oriented focus of the materialsIntroduction to yield engineering common practicesThe 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New cha.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 180,07
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 311,45
Convertir monedaEUR 14,50 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
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