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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: Buchpark, Trebbin, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 37,90
Convertir monedaEUR 14,90 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: Sehr gut. Zustand: Sehr gut | Sprache: Englisch | Produktart: Bücher.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Solr Books, Lincolnwood, IL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 18,46
Convertir monedaEUR 64,04 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoCondición: very_good. This books is in Very good condition. There may be a few flaws like shelf wear and some light wear.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Patrico Books, Apollo Beach, FL, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 14,95
Convertir monedaEUR 92,22 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 158,45
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Best Price, Torrance, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 192,02
Convertir monedaEUR 25,60 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Best Price, Torrance, CA, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 192,02
Convertir monedaEUR 25,60 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
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Defect-oriented Testing for Nano-metric Cmos Vlsi Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 203,66
Convertir monedaEUR 17,07 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 15 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 204,04
Convertir monedaEUR 17,07 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 15 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Ria Christie Collections, Uxbridge, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 225,90
Convertir monedaEUR 5,15 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (34))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 220,91
Convertir monedaEUR 28,67 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
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Defect-oriented Testing for Nano-metric Cmos Vlsi Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 239,72
Convertir monedaEUR 17,07 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 15 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Librería: GreatBookPrices, Columbia, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 240,13
Convertir monedaEUR 17,07 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 15 disponibles
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Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., 2007
ISBN 10: 0387465464 ISBN 13: 9780387465463
Idioma: Inglés
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 250,72
Convertir monedaEUR 2,00 gastos de envío desde Irlanda a EspañaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Presents the work on defect-oriented testing. This book is useful for test and design practitioners from academia and industry. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 349 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 20. Weight in Grams: 669. . 2007. 2nd ed. 2007. Hardback. . . . .
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 202,48
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Añadir al carritoCondición: New.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing, 34)
Librería: Lucky's Textbooks, Dallas, TX, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 202,88
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Añadir al carritoCondición: New.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Hardcover)
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., New York, NY, 2007
ISBN 10: 0387465464 ISBN 13: 9780387465463
Idioma: Inglés
Librería: Grand Eagle Retail, Mason, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 206,37
Convertir monedaEUR 64,04 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: new. Hardcover. Defect-oriented testing methods have come a long way from a mere interesting academic exercise to a hard industrial reality. Many factors have contributed to its industrial acceptance. Traditional approaches of testing modern integrated circuits have been found to be inadequate in terms of quality and economics of test. In a globally competitive semiconductor market place, overall product quality and economics have become very important objectives. In addition, electronic systems are becoming increasingly complex and demand components of the highest possible quality. Testing in general and defect-oriented testing in particular help in realizing these objectives. For contemporary System on Chip (SoC) VLSI circuits, testing is an activity associated with every level of integration. However, special emphasis is placed for wafer-level test, and final test. Wafer-level test consists primarily of dc or slow-speed tests with current/voltage checks per pin under most operating conditions and with test limits properly adjusted. Basic digital tests are applied and in some cases low-frequency tests to ensure analog/RF functionality are exercised as well. Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc. This partitioning choice is actually application dependent. Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: Books Puddle, New York, NY, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 280,52
Convertir monedaEUR 9,82 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. pp. 352 2nd Edition.
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Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., 2010
ISBN 10: 1441942858 ISBN 13: 9781441942852
Idioma: Inglés
Librería: Kennys Bookshop and Art Galleries Ltd., Galway, GY, Irlanda
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 283,49
Convertir monedaEUR 2,00 gastos de envío desde Irlanda a EspañaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 349 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 18. Weight in Grams: 539. . 2010. Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2007. paperback. . . . .
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Paperback)
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., New York, NY, 2010
ISBN 10: 1441942858 ISBN 13: 9781441942852
Idioma: Inglés
Librería: Grand Eagle Retail, Mason, OH, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 229,97
Convertir monedaEUR 64,04 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: new. Paperback. Defect-oriented testing methods have come a long way from a mere interesting academic exercise to a hard industrial reality. Many factors have contributed to its industrial acceptance. Traditional approaches of testing modern integrated circuits have been found to be inadequate in terms of quality and economics of test. In a globally competitive semiconductor market place, overall product quality and economics have become very important objectives. In addition, electronic systems are becoming increasingly complex and demand components of the highest possible quality. Testing in general and defect-oriented testing in particular help in realizing these objectives. For contemporary System on Chip (SoC) VLSI circuits, testing is an activity associated with every level of integration. However, special emphasis is placed for wafer-level test, and final test. Wafer-level test consists primarily of dc or slow-speed tests with current/voltage checks per pin under most operating conditions and with test limits properly adjusted. Basic digital tests are applied and in some cases low-frequency tests to ensure analog/RF functionality are exercised as well. Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc. This partitioning choice is actually application dependent. Final test consists of checking device functionality by exercising RF tests and by applying a comprehensive suite of digital test methods such as I , delay fault testing, DDQ stuck-at testing, low-voltage testing, etc. Shipping may be from multiple locations in the US or from the UK, depending on stock availability.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 297,41
Convertir monedaEUR 11,47 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Brand New. 2nd edition. 349 pages. 9.10x6.10x0.90 inches. In Stock.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
Librería: Revaluation Books, Exeter, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 300,00
Convertir monedaEUR 11,47 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 2 disponibles
Añadir al carritoHardcover. Condición: Brand New. 2nd edition. 328 pages. 9.25x6.25x0.75 inches. In Stock.
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Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., 2007
ISBN 10: 0387465464 ISBN 13: 9780387465463
Idioma: Inglés
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 314,20
Convertir monedaEUR 1,88 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Presents the work on defect-oriented testing. This book is useful for test and design practitioners from academia and industry. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 349 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 20. Weight in Grams: 669. . 2007. 2nd ed. 2007. Hardback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Frontiers in Electronic Testing (34))
Librería: Mispah books, Redhill, SURRE, Reino Unido
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 307,14
Convertir monedaEUR 28,67 gastos de envío desde Reino Unido a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
Añadir al carritoPaperback. Condición: Like New. Like New. book.
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Defect-oriented Testing for Nano-metric CMOS VLSI Circuits
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., 2010
ISBN 10: 1441942858 ISBN 13: 9781441942852
Idioma: Inglés
Librería: Kennys Bookstore, Olney, MD, Estados Unidos de America
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 354,82
Convertir monedaEUR 1,88 gastos de envío desde Estados Unidos de America a EspañaCantidad disponible: 15 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Series: Frontiers in Electronic Testing. Num Pages: 349 pages, biography. BIC Classification: TJFC. Category: (P) Professional & Vocational. Dimension: 234 x 156 x 18. Weight in Grams: 539. . 2010. Softcover reprint of hardcover 2nd ed. 2007. paperback. . . . . Books ship from the US and Ireland.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Paperback)
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., New York, NY, 2010
ISBN 10: 1441942858 ISBN 13: 9781441942852
Idioma: Inglés
Librería: AussieBookSeller, Truganina, VIC, Australia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 357,92
Convertir monedaEUR 31,59 gastos de envío desde Australia a EspañaCantidad disponible: 1 disponibles
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits (Hardcover)
Publicado por Springer-Verlag New York Inc., New York, NY, 2007
ISBN 10: 0387465464 ISBN 13: 9780387465463
Idioma: Inglés
Librería: AussieBookSeller, Truganina, VIC, Australia
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 361,37
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 180,07
Convertir monedaEUR 19,49 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: Más de 20 disponibles
Añadir al carritoCondición: New. Dieser Artikel ist ein Print on Demand Artikel und wird nach Ihrer Bestellung fuer Sie gedruckt. Wide coverage of topics in test engineeringUnique defect-oriented focus of the materialsIntroduction to yield engineering common practicesThe 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New cha.
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: moluna, Greven, Alemania
Calificación del vendedor: 4 de 5 estrellas
EUR 180,07
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: Majestic Books, Hounslow, Reino Unido
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 296,88
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Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Librería: Biblios, Frankfurt am main, HESSE, Alemania
Calificación del vendedor: 5 de 5 estrellas
EUR 301,89
Convertir monedaEUR 14,50 gastos de envío desde Alemania a EspañaCantidad disponible: 4 disponibles
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